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          標題: 征集數字射線問題——遠東論壇組織專家回復 [打印本頁]

          作者: 強天鵬    時間: 2017-2-18 01:41
          標題: 征集數字射線問題——遠東論壇組織專家回復
          為進一步發展數字射線技術工藝和應用研究,自即日起,在本欄目征集數字射線問題,包括技術、工藝、設備、器材、理論、檢測方案等各個方面的問題均可提出。
          遠東論壇將選擇其中有價值問題,組織和邀請國內外專家進行答復和討論交流。


          作者: foster    時間: 2017-3-3 09:50
          強老師好,感謝提供這個交流機會,近期在學習NB/T47013.11-2015標準,有如下兩個疑問:
          (1)標準要求控制圖像灰度范圍,例如AB級圖像的灰度值應該控制在滿量程的20%~80%。控制灰度下限是為了保證靈敏度,那么控制灰度上限的原因是什么?
          (2)測試圖像分辨率時標準要求雙絲應與圖像(或探測器)的行或列成較小的夾角(如2°~5°),個人理解這個要求是為了避免探測器像素排列造成的影響,那為何單絲沒有這種要求?另外,近期我們在做CR檢測的試驗,發現這個夾角對單絲靈敏度影響很大,設備上都要求像質計和IP板掃描方向要有一個小的傾斜。

          作者: 強天鵬    時間: 2017-3-18 18:51
          foster 發表于 2017-3-3 09:50
          強老師好,感謝提供這個交流機會,近期在學習NB/T47013.11-2015標準,有如下兩個疑問:
          (1)標準要求控制 ...

          您提的問題很好!
          第一個問題,我的看法是:數字射線照相控制灰度似乎并不重要,至少不像膠片照相控制黑度那么重要。但標準制訂時對灰度控制不提指標似乎也不放心。實際上,國外標準并沒有規定灰度的控制指標。
          第二個問題,您的理解是對的,傾斜2°~5°肯定是為了避免探測器像素排列造成的影響。我想追問一下你們的試驗結果,有2°~5°傾斜和不傾斜,分辨率測量結果相差多少?
          我們跟德國BAM的Uwe Ewert博士的交流在6月26-30日進行,因此這兩個問題在6月底將給您準確的答復。



          作者: foster    時間: 2017-3-20 10:20
          強天鵬 發表于 2017-3-18 18:51
          您提的問題很好!第一個問題,我的看法是:數字射線照相控制灰度似乎并不重要,至少不像膠片照相控制黑度 ...

          強老師,2月份我們邀請CR設備商來廠里演示,對于30mm后的鋼板對接焊縫當單絲平行和垂直放置時怎么調節參數靈敏度都出不來,老外就要求傾斜放置就出來了,但是沒解釋什么原因。

          作者: yuduyueguanglei    時間: 2017-3-27 11:52
          強老師您好:
                 關于CR技術應用請教兩個問題,謝謝。
                  1、據了解目前的 CR系統有線性系統和對數系統,各自具有什么優缺點?
                 2、市場上IP成像板有兩種類型,分別為普通的成像板和成像板背后帶有磁性材料的成像板,可否介紹一下這兩種IP板的優缺點?磁性材料是否會影響到CR的圖像質量?


          作者: 強天鵬    時間: 2017-3-27 20:12
          foster 發表于 2017-3-20 10:20
          強老師,2月份我們邀請CR設備商來廠里演示,對于30mm后的鋼板對接焊縫當單絲平行和垂直放置時怎么調節參 ...

          我對您的問題有一個推測的答案,需要證實后才能公布。

          作者: 強天鵬    時間: 2017-3-31 15:13
          yuduyueguanglei 發表于 2017-3-27 11:52
          強老師您好:
                 關于CR技術應用請教兩個問題,謝謝。
                  1、據了解目前的 CR系統有線性系統和對 ...
          1、所謂“CR系統有線性系統和對數系統”,是指系統中將模擬圖像轉換為數字圖像的A/D轉換器,對信號幅度(圖像灰度)進行轉換時,有的是按對數關系轉換,有的是按線性關系轉換,對數轉換的優點是動態范圍大,但小信號容易忽略;線性轉換動態范圍小,但無論小信號還是大信號,其灰度變化比率是不變的。孰優孰劣,各有千秋。
          2、IP板的潛影形成應該不受磁場影響。

          作者: 18153202890    時間: 2018-12-19 08:59
          老師,最近在學習CR技術理論,看到成像質量主要在兩方面(一是單絲像質計表征對比度;二是雙絲像質計表征不清晰度),因為我們公司一般用ASME V,但是我在ASMEV第二章強制性附錄VIII(IP板成像替代膠片)里沒有看到雙絲像質計的要求啊,請問我們執行這個標準檢驗時,是否可以不用加雙絲像質計




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