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標(biāo)題: RB-C試塊疑問(wèn) [打印本頁(yè)]
          

          
作者: jxtjndt    時(shí)間: 2015-10-8 08:25
          
標(biāo)題: RB-C試塊疑問(wèn)
          JB/T47013.3-2015的規(guī)定，管子環(huán)向?qū)咏宇^，外徑≥159-500mm,檢測(cè)方法按附錄K進(jìn)行，file:///C:/DOCUME~1/ly/LOCALS~1/Temp/msohtml1/01/clip_image002.jpg
          哪問(wèn)題如下：
          1 按K4.1和K4.2條的理解，是不是一定要制做RB-C對(duì)比試塊？因?yàn)榧词褂?/font>CSK-ⅡA制作DAC曲線，也要在RB-C試塊上進(jìn)行修正，哪還不如直接在RB-C試塊上制作DAC曲線，這樣更省事。
          2 按照以往經(jīng)驗(yàn)，如果采用高頻、小晶片探頭來(lái)進(jìn)行檢測(cè)，保證探頭接觸面與工件最大間隙小于0.5mm,,能否能直接采用CSK-ⅡA制作DAC曲線而不用在RB-C試塊上進(jìn)行修正？或者用CSK-ⅡA做好曲線后，直接在管子上進(jìn)行耦合補(bǔ)償就行？（好像沒(méi)有找到可以這樣做的依據(jù)？）

          

          
作者: nde7225030    時(shí)間: 2015-10-9 08:18
          
標(biāo)準(zhǔn)是為試塊廠家制訂的，說(shuō)好可以用這個(gè)試塊，但靈敏度要與某試塊一致，那必須進(jìn)行補(bǔ)償。如何補(bǔ)償？難度很大，試塊形式不一樣，參考反射體不一樣，反射體位置有些在近場(chǎng)區(qū)，有些在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，不能光用公式計(jì)算來(lái)確定靈敏度差異。還不如一步到位，買(mǎi)新試塊算了。那不就是試塊廠家的生意來(lái)了嗎？以前用于兩樣工件檢測(cè)的試塊，現(xiàn)在也變了。
          
作者: nde7225030    時(shí)間: 2015-10-9 08:19
          
“同樣工件”，打字錯(cuò)誤。不同“兩樣工件”
          
作者: zongjian6498    時(shí)間: 2015-10-16 14:51
          
新標(biāo)準(zhǔn)不明白的太多。哎
          
作者: 超聲檢測(cè)技術(shù)    時(shí)間: 2018-12-18 08:36
          
不修正就不符合47013，工藝就錯(cuò)了，你就是做的再好，也不符合要求
          
作者: 297256415    時(shí)間: 2020-12-15 13:31
          
有人解答嗎




          

          

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