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標題: 待更新 [打印本頁]
          

          
作者: liuchangshan    時間: 2015-9-22 09:09
          
標題: 待更新
           本帖最后由 地煞符vd 于 2016-7-1 09:27 編輯 
          

          

          待更新~
          
作者: YL60007    時間: 2015-9-23 09:58
          
看著圖片像是CCD成像吧，是不是該用DR成像了。
          
作者: liuchangshan    時間: 2015-9-23 10:45
          

          YL60007 發表于 2015-9-23 09:58
          
看著圖片像是CCD成像吧，是不是該用DR成像了。

          
是基于非晶硅的面陣平板探測器的DR成像，不是基于CCD的。
          
作者: liuchangshan    時間: 2015-9-23 10:48
          

          YL60007 發表于 2015-9-23 09:58
          
看著圖片像是CCD成像吧，是不是該用DR成像了。

          


          
我大概對射線檢測分了類，你參看下。
          
[attach]11261[/attach]
          

          

          
作者: YL60007    時間: 2015-9-24 08:18
          

          地煞符vd 發表于 2015-9-23 10:45
          
是基于非晶硅的面陣平板探測器的DR成像，不是基于CCD的。

          
對，目前這種使用比較多。
          

          
作者: YL60007    時間: 2015-9-24 08:29
          
我們用的是這種。
          

          
作者: liuchangshan    時間: 2015-9-24 09:13
          

          YL60007 發表于 2015-9-24 08:29
          
我們用的是這種。

          
我們用的是Varian 1313 DX的平板探測器，A/D16位，1*1模式 像素尺寸127微米，我查詢了你這款是200微米也可能成像對于細小缺陷的識別更好一點。
          

          
作者: DR檢測-老吳    時間: 2015-9-25 09:55
          
如果對數字化檢測感興趣，可以加   DR數字化無損檢測群 321497431，歡迎大家來探討學習。
          

          
作者: liuchangshan    時間: 2015-10-16 11:08
          
http://m.jinlidl.com/forum.php? ... &extra=page%3D1




          

          

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