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標題: 關于新標準的IIA IIIA試塊問題。 [打印本頁]
          

          
作者: zhishixiang    時間: 2015-9-6 20:49
          
標題: 關于新標準的IIA IIIA試塊問題。
           本帖最后由 zhishixiang 于 2015-9-6 20:51 編輯 
          

          
新修訂的標準里面把IIIA放在了附錄O，現在出現問題就是IIA試塊在前面好多同學會以為IIIA的廢除了。
          
還有就是下面圖片中的問提。
          
在8~120范圍內，IIA 跟IIIA的靈敏度是不是一樣。
          
[attach]11105[/attach]
          

          
新標準的IIA IIIA靈敏度
          
[attach]11106[/attach]
          
[attach]11107[/attach]
          

          

          
舊標準的靈敏度
          
[attach]11108[/attach]
          

          
對比發現只是厚度增加了。靈敏度加了比較厚的部分。
          
作者: YL60007    時間: 2015-9-15 09:20
          
這里是不是可以理解為工件厚度8至120mm時優先選用CSK-ⅢA試塊。
          
作者: 小王    時間: 2015-9-15 13:00
          
我想應該是可靠性好，CSK-ⅡA試塊的反射孔長40，容易調DAC，人的影響因素可能少些。CSK-ⅢA試塊我想目前大多數企業現有的，用的比較上手，但從發展趨勢看：05版CSK-ⅡA作為備選，15版主推，下版可能******會被淘汰的。
          
探頭的技術指標也越來越重視，目前相同型號（頻率、晶片尺寸、角度）經測試相差太大，廠家也不檢測就出廠。15版就重視了許多。
          
標準講求一致性，大家按標準做，結果應該盡量一致。采用CSK-ⅡA從人員對比上可靠性好，探頭晶片尺寸大（如20*20）從人員對比上可靠性也比小晶片好，
          
作者: 小王    時間: 2015-9-15 13:03
          
補充：會被淘汰的是CSK-ⅢA試塊




          

          

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