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標(biāo)題: 直探頭軸向檢測軸類鍛件時(shí)，最外側(cè)缺陷的檢測 [打印本頁]
          

          
作者: yeshuqinghua    時(shí)間: 2014-10-5 21:41
          
標(biāo)題: 直探頭軸向檢測軸類鍛件時(shí)，最外側(cè)缺陷的檢測
          直探頭軸向檢測軸類鍛件時(shí)側(cè)壁干涉波對檢測有影響。那鍛件圓周最外側(cè)的缺陷能檢測出來嗎？
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-10-6 07:15
          
檢出機(jī)率較低，此時(shí)可增加斜探頭掃查或采用其它的檢測方法，比如磁粉或滲透。




          

          

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