国产国语对白一区二区三区,五月婷婷五月天,国产精品亚洲色婷婷99久久精品,神马不卡一区二区三级,亚洲V日韩V无码一区二区
,爱豆传媒AV片,亚洲日韩欧洲无码AV夜夜摸,狠狠色噜噜狠狠色综合久 


          遠東無損檢測資訊網
          
標題: 相控陣成像技術（TFM）--缺陷定性分析 [打印本頁]
          

          
作者: ◎°　　m祥．    時間: 2014-8-25 09:58
          
標題: 相控陣成像技術（TFM）--缺陷定性分析
           本帖最后由 ◎°　　m祥． 于 2014-8-25 10:08 編輯 
          

          
       最近逛無損檢測論壇，看大家的發帖都是常規超聲技術，向大家分享一種相控陣成像技術--TFM（Total Focus Method）全聚焦方法，以及一些TFM成像的效果圖。想了解可以聯系我，我有一些相關資料。
          
1.        實時全聚焦成像技術
          
      全聚焦成像技術（TFM）通過特殊的的數據采集方法與成像技術能對缺陷進行非常精確的成像。使得超聲檢測在缺陷定量及定性上更加的準確。全聚焦技術采用了全矩陣捕捉法（FMC）對檢測區域進行數據采集。
          
    a)        基本原理
          
    FMC（全矩陣采集）是利用超聲相控陣探頭的一個特定的數據采集過程。對于一個N個晶片的陣列探頭，每個晶片依次激發，同時所有的晶片接收信號。這些數據被組織在一個包含所有采集信號矩陣S中。Sij表示的是由晶片i發射晶片j接收的A掃信號。全矩陣數據需要進行后處理后來顯示檢測結果。全聚焦方法（TFM）就是一種用來處理FMC數據集的后處理算法。                                                                                             [attach]9423[/attach][attach]9422[/attach] 
          

          
      TFM是一種信號處理算法利用FMC模式所采集的數據。首先確定一個合理的檢測區域用于數據重建。然后將檢測區域進行空間離散化成為一個網格，對于這個網格區域中的每一點，聚焦法則的計算都基于相控陣探頭的晶片位置。所有記錄的信號都是時移量，并且與每一個點相對與探頭發射和接收晶片的距離求和相對應。當檢測區域內的所有點重建完成時整個循環結束。
          
     下面是一些標準試塊（材料：鋼）上的檢測示例。它們驗證了該算法的對缺陷高分辨率，尤其是出色的近場與遠場分辨率。檢測使用的64陣元，頻率為5 MHz的線性相控陣探頭。成像結果更接近“X-射線”型超聲檢測。回波不用再通過經驗進行辨識，缺陷輪廓清晰，使缺陷評估更加容易。
          

          [attach]9428[/attach]     
                 B型試塊成像 
          [attach]9424[/attach]

          

                扇掃和TFM成像對比   
          [attach]9429[/attach]      
          試塊           
          [attach]9425[/attach]
               裂紋      
          [attach]9426[/attach]
                                                                                                                 0.2毫米氣孔缺陷
          
          以上的一些成像結果可以充分體現TFM在對缺陷定性分析中的作用，能對缺陷的更好的識別和判定。應該是代表以后相控陣技術發展的方向。
          

          

          

          
作者: ◎°　　m祥．    時間: 2014-8-25 10:00
          
 本帖最后由 ◎°　　m祥． 于 2014-8-25 10:14 編輯 
          

          
新手發帖。。
          
作者: 尼莫    時間: 2014-8-25 14:28
          
學習了~
          
作者: ghost    時間: 2014-8-25 20:24
          
你好，能否發一份資料共同學習，郵箱[email protected]
          

          
作者: ◎°　　m祥．    時間: 2014-8-26 20:45
          

          ghost 發表于 2014-8-25 20:24
          
你好，能否發一份資料共同學習，郵箱

          
可以，一會發給你
          

          
作者: 牽手了┍就卟再    時間: 2014-8-27 11:48
          
謝謝，能不能發份給我啊[email protected]
          

          
作者: 糟老頭子    時間: 2014-8-27 11:57
          
請樓主發我一份，[email protected]，麻煩了
          
作者: 天道酬勤    時間: 2014-8-27 13:24
          
同求發一份。謝謝樓主 [email protected]
          
作者: 超聲波    時間: 2014-8-27 14:16
          
請給[email protected]發一份。先謝謝了！
          
作者: yyx88888    時間: 2014-8-27 21:02
          
請樓主分享一份 [email protected]
          
作者: 糟老頭子    時間: 2014-8-27 23:52
          
謝謝樓主的資料。這種技術看起來像相控陣的動態深度聚焦掃查（DDF）
          
作者: ◎°　　m祥．    時間: 2014-8-28 09:32
          

          糟老頭子 發表于 2014-8-27 23:52
          
謝謝樓主的資料。這種技術看起來像相控陣的動態深度聚焦掃查（DDF）

          
還是有很大區別的，DDF的主要原理是在不同深度上設置聚焦法則。而TFM沒有對發射和接收對波束進行偏轉和聚焦，是在后期數據處理過程中，實現檢測區域所有離散點的發射-接收對的A掃幅度疊加而實現聚焦。成像效果TFM質量是最高的！
          

          
作者: 司馬揚風    時間: 2014-8-28 10:03
          
麻煩樓主給我發一份[email protected]謝了
          
作者: liurong    時間: 2014-8-28 13:59
          
請樓主給我發一份。郵箱：[email protected]
          
作者: 謝茂源    時間: 2014-8-28 20:47
          
謝謝
          
作者: 謝茂源    時間: 2014-8-28 20:47
          
謝謝，好東西
          
作者: 小、特務    時間: 2014-8-29 10:06
          
樓主給我也發一份，了解  學一下；[email protected]   謝謝你
          
作者: ╰９〇後╮_屁孩    時間: 2014-8-29 16:13
          
樓主麻煩發一份[email protected]，謝謝
          
作者: cxl369167    時間: 2014-8-29 17:27
          
您好，能否也發給我一份資料共同學習，郵箱  [email protected]     謝謝    
          
作者: yourluy    時間: 2014-8-29 22:05
          
您好，能否也發給我一份資料共同學習，郵箱  [email protected]     謝謝   
          

          
作者: 王加永    時間: 2014-9-1 09:19
          
好資料，煩請樓主分享一份[email protected].先謝謝了。
          
作者: hammer11    時間: 2014-9-1 13:08
          
請樓主給我發一份。郵箱 [email protected]
          
作者: 馬君鵬    時間: 2014-9-2 08:05
          
[email protected]謝謝！
          
作者: 月影深藍    時間: 2014-9-2 10:51
          
麻煩樓主共享一下知識了，謝謝！[email protected]
          
作者: ljplg    時間: 2014-9-2 11:04
          
請樓主分享給我一份[email protected]
          
作者: sunyibin    時間: 2014-9-3 00:02
          
很好，先謝樓主了
          
作者: 未圓湖    時間: 2014-9-5 20:26
          
我在做這方面的科研 能否給我一份資料 郵箱[email protected]
          

          
作者: 經典醇    時間: 2014-9-9 12:15
          
同求發一份。謝謝樓主[email protected]
          
作者: 天府花生    時間: 2014-9-13 19:39
          
這個要是發論壇 上就好了，要是發不了給我也來一份吧樓主[email protected]
          
作者: PAFun    時間: 2014-9-18 16:44
          
剛學習相控陣，好象很難呀
          
作者: hzky88    時間: 2014-10-14 10:47
          
各位同行分享一份過來，謝謝！[email protected]
          
作者: 為愛奮斗    時間: 2014-10-16 09:09
          
[email protected],求分享，謝謝
          

          
作者: 滾燙的小米粥    時間: 2014-10-16 09:38
          
505212724@qq。com
          
作者: renvance    時間: 2014-11-2 09:59
          
你好，能給我也一些資料，謝謝，[email protected],我是電站鍋爐檢驗的，前幾天在現場看到有的單位相控陣的應用，覺得對檢測對象的結構和缺陷檢測率，有一定優勢，我想多了解一點
          
作者: renvance    時間: 2014-11-12 07:44
          
能多給點原理介紹，謝謝
          
作者: .小人物    時間: 2014-12-17 11:16
          
求樓主發一份資料學習[email protected]
          
作者: N-D-E    時間: 2014-12-27 11:41
          
樓主能否發我一份，萬分感激。郵箱：[email protected]
          
作者: 浩瀚    時間: 2015-2-10 09:58
          
提示: 作者被禁止或刪除 內容自動屏蔽

          
作者: 浩瀚    時間: 2015-2-12 17:27
          
提示: 作者被禁止或刪除 內容自動屏蔽

          
作者: wangxueho    時間: 2015-2-26 16:30
          
 本帖最后由 wangxueho 于 2015-2-26 16:31 編輯 
          

          
你好，公司讓我熟悉相控陣相關情況，準備上相控陣設備
          
你有沒有相控陣相關的標準和資料，麻煩賜教，謝謝
          
[email protected]
          
作者: diego123l    時間: 2015-3-6 11:14
          
可以給我發一份嗎?學習一下
          
作者: spgaolei    時間: 2015-4-29 16:23
          
你好，是否可以給我發一份TFM資料  [email protected]  不勝感謝
          
作者: 栗蘇    時間: 2015-5-3 16:32
          
樓主也發我一份[email protected]
          
作者: zz371989    時間: 2015-9-5 23:07
          
樓主，求資料！謝謝！！！[email protected]
          
作者: hance12    時間: 2015-9-7 13:45
          
[email protected]
          
謝謝
          
作者: yue6197    時間: 2015-10-25 04:12
          
先謝謝樓主，[email protected]
          
作者: 為愛奮斗    時間: 2015-11-9 13:28
          
請樓主分享一份[email protected] 
          

          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2015-11-17 21:56
          
對M2M相控陣設備和TFM技術感興趣的，可以在這個帖子回復。我會不定期發送技術資料給大家。最好大家把自己的應用方向告訴我，我就更加清楚發哪方面的資料給您。
          
后期我也會發技術資料上來
          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2015-11-17 22:06
          

          diego123l 發表于 2015-3-6 11:14
          
可以給我發一份嗎?學習一下

          
可以留下你的郵箱，我發給你。M2M設備相控陣檢測技術資料
          

          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2015-11-17 22:07
          

          浩瀚 發表于 2015-2-12 17:27
          
我想問您一個問題。
          
對于相控陣的接收是不是相當于總共接收了N次 ？

          
總共接收了NXN次A掃數據
          

          
作者: 1192184333    時間: 2015-12-16 10:12
          
請樓主分享一份  [email protected]
          
謝謝
          
作者: qidongymt    時間: 2015-12-16 13:29
          
樓主，你好，能發一份資料讓我也學習學習么。郵箱[email protected]，學習
          
作者: 清風    時間: 2015-12-16 14:54
          
樓主也發我一份[email protected]
          
作者: 子善    時間: 2015-12-18 21:47
          
樓主，發我一份吧，謝謝[email protected]
          
作者: wpfnichol    時間: 2015-12-24 14:05
          
樓主您好，最近初識相控陣，能否分享一下學習資料，[email protected]，謝謝！
          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2015-12-28 21:44
          

          wpfnichol 發表于 2015-12-24 14:05
          
樓主您好，最近初識相控陣，能否分享一下學習資料，，謝謝！

          
樓上的都已發資料，注意查收
          

          
作者: MENG    時間: 2015-12-29 09:05
          
請教一下，TFM在Focal Law里需要設定聚焦深度嗎
          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2015-12-29 15:00
          

          MENG 發表于 2015-12-29 09:05
          
請教一下，TFM在Focal Law里需要設定聚焦深度嗎

          
不需要，TFM是一發全收模式
          

          
作者: MENG    時間: 2015-12-30 04:43
          

          M2M_NDTengineer 發表于 2015-12-29 15:00
          
不需要，TFM是一發全收模式

          
TFM只是在近場區內聚焦還是可以在任意深度聚焦或者全部聲程內聚焦？
          

          
一發全收是什么意思，一個晶片發射全部64個晶片都可以接收，還是在一個Focal Law 里面可以驅動64個晶片發射接收，這個和聚焦有什么關系？
          

          
謝謝
          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2015-12-30 15:12
          

          MENG 發表于 2015-12-30 04:43
          
TFM只是在近場區內聚焦還是可以在任意深度聚焦或者全部聲程內聚焦？
          

          
一發全收是什么意思，一個晶片發射 ...

          
在它的顯示范圍里，每個像素點都是聚焦的，這就叫全聚焦。
          
是一個晶片發射全部64個晶片采集形成一個子集。通過分別激發64個晶片，采集到64個子集后。就可以進行全聚焦算法重構圖像了
          
這個采集的過程叫做全矩陣捕獲（FMC）
          

          

          

          

          
作者: MENG    時間: 2015-12-31 07:25
          

          M2M_NDTengineer 發表于 2015-12-30 15:12
          
在它的顯示范圍里，每個像素點都是聚焦的，這就叫全聚焦。
          
是一個晶片發射全部64個晶片采集形成一個子集 ...

          
能貼個TFM的聲場示意圖嗎，類似這樣的
          

          

          
我總感覺這個并不是對聲場進行物理聚焦，而是對圖像顯示進行了特殊的優化處理，理由是單個探頭單個FOCAL LAW對整個顯示范圍內各點全部聚焦是不可能的。
          

          
能不能貼個FOCAL LAW的截圖，有點好奇這種方法有哪些選項是如何設定參數的。
          

          
謝謝
          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2015-12-31 13:23
          

          MENG 發表于 2015-12-31 07:25
          
能貼個TFM的聲場示意圖嗎，類似這樣的

          
抱歉，設備不在。TFM是接收聚焦不是發射聚焦。你貼的圖就是發射聚焦。按照TFM的全聚焦模式，如果要控制發射延時對每一點進行發射聚焦那是不可能的。留下郵箱可以發一份資料你簡單看下
          

          
作者: zpzlpp    時間: 2016-1-13 17:05
          
請樓主分享一份，[email protected]
          
作者: hgsunyu    時間: 2016-2-25 09:37
          
請樓主分享一份，謝謝！[email protected]
          
作者: hgsunyu    時間: 2016-2-25 09:37
          
請樓主分享一份，謝謝！[email protected]
          
作者: lsadm_110    時間: 2016-3-13 10:46
          
請樓主發一份資料給我，謝謝！[email protected]
          
作者: 孤狼    時間: 2016-3-14 09:35
          
感謝樓主分享，[email protected]
          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2016-3-15 16:17
          
已經發送，請查收
          
作者: 我我我    時間: 2016-4-19 20:06
          
您好，我最近也在研究這樣面的內容，能不能麻煩您給我也發一份學習資料呢，十分感謝。
          
作者: 我我我    時間: 2016-4-22 17:01
          
能不能給我也發一份[email protected]，謝謝
          
作者: 王禎.    時間: 2016-4-28 20:15
          
你好，能否發一份資料共同學習，郵箱[email protected]
          
作者: kucaolianggen    時間: 2016-6-12 16:36
          
麻煩發給我一份，謝謝！
          
[email protected]
          
同時請教一下，是否可以檢測到表面裂紋！
          
作者: M2M_NDTengineer    時間: 2016-7-7 10:11
          

          kucaolianggen 發表于 2016-6-12 16:36
          
麻煩發給我一份，謝謝！
          

          
同時請教一下，是否可以檢測到表面裂紋！

          
表面裂紋使用滲透和漏磁更好些吧，底部裂紋用全聚焦技術和扇掃技術可以很容易檢測出來。以上留郵件已發，注意查收
          

          
作者: yzlgl    時間: 2016-7-10 11:33
          
請樓主發我一份，[email protected]，麻煩了.。。。。。。。。。。。。。
          
作者: N-D-E    時間: 2017-2-23 17:10
          
TFM相關資料介紹能否也發我一份？謝謝！郵箱：lijianguo1006[url=]@163.com[/url]
          

          
作者: xiangzi66ai    時間: 2017-3-1 09:45
          
您好，能否發一份給我，[email protected]，非常感謝
          

          
作者: tdj0214    時間: 2017-3-1 11:38
          

          請樓主分享一份 [email protected]

          

          
作者: luscifer    時間: 2017-3-21 00:08
          
樓主，你好，正遇到相控陣的問題，能否發一份供學習，感謝
          
[email protected]
          

          
作者: 米飯6    時間: 2017-3-21 10:57
          
不錯啊 ！可以啊
          

          
作者: yanyingjuanli    時間: 2017-3-29 17:21
          
直接可獲得缺陷的形狀，無需太多經驗判斷。能否發一份資料介紹，謝謝！郵箱：[email protected]
          

          
作者: 13617598    時間: 2017-4-9 21:18
          

          yanyingjuanli 發表于 2017-3-29 17:21
          
直接可獲得缺陷的形狀，無需太多經驗判斷。能否發一份資料介紹，謝謝！郵箱：
          
 ...

          
 樓主，請給我發一份，正在研究相控陣。[email protected],謝謝
          

          
作者: 13617598    時間: 2017-4-9 21:19
          
樓主，請給我發一份，正在研究相控陣。[email protected],謝謝
          

          
作者: 恒星的恒心    時間: 2017-5-4 11:21
          
能否發我一些資料，郵箱[email protected]
          

          
作者: diego123l    時間: 2017-7-26 15:44
          
[email protected]，多謝了
          

          
作者: 恒星的恒心    時間: 2017-10-14 16:10
          
樓主能否發我一份，現在正在找這方面的資料，謝謝！[email protected]
          
作者: 李小軍    時間: 2017-10-27 14:34
          
請樓主分享一份，[email protected]  謝謝啦！
          
作者: 月夜殤    時間: 2017-10-27 18:01
          
請樓主分享一份[email protected]
          
作者: daweid2008    時間: 2017-10-31 15:11
          
請給[email protected]發一份。先謝謝了！
          
作者: 風中呢喃    時間: 2017-11-2 08:46
          
贊
          
作者: volcano0903    時間: 2017-11-22 22:39
          
好東西管道對接環焊縫的相控陣檢測技術
          
作者: 清都山水郎    時間: 2017-11-25 11:42
          
樓主好人，求分享資料，[email protected]
          
作者: 假面    時間: 2017-12-5 15:25
          
[email protected]      麻煩樓主發一份   TFM是設備帶的功能，還是需要常規相控陣設備添加的收費功能？
          
作者: 周帥    時間: 2018-5-9 10:15
          
同求分享 好人一生平安[email protected]
          
作者: 脆皮巧克力    時間: 2018-5-29 12:51
          
同求分享，希望樓主能發我一份[email protected]
          
作者: 我是付卡卡    時間: 2018-5-31 14:16
          
[email protected]。謝謝
          
作者: monsterhua    時間: 2018-7-13 13:06
          
學習了，麻煩樓主也發一份資料給我：[email protected]
          
作者: gjl508891    時間: 2019-1-3 14:25
          
清樓主發一份資料吧，[email protected]
          
作者: 霍元二    時間: 2019-1-7 15:04
          
[email protected]    發一份謝謝
          
作者: liurong    時間: 2019-1-8 10:32
          
求發一份。[email protected]
          
作者: seer號aobi    時間: 2019-1-8 19:54
          
樓主方便的話麻煩也發一份資料給我：[email protected],，感謝樓主了




          

          

          歡迎光臨 遠東無損檢測資訊網 (http://m.jinlidl.com/)

Powered by Discuz! X3.5