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標(biāo)題: 如何測定焊縫檢測耦合補(bǔ)償 [打印本頁]
          

          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-3-27 22:13
          
標(biāo)題: 如何測定焊縫檢測耦合補(bǔ)償
          平時(shí)在N個(gè)單位進(jìn)行審核發(fā)現(xiàn)大部分UT檢測人員對(duì)于此值的理解停留在考試?yán)蠋熤v的3或4dB,很少有人進(jìn)行真正的測量。在此請大家曬曬你所認(rèn)為的方法，最后我來公布我們目前采用的簡易方法，及其適用限制條件！
          

          
作者: 楓林晚    時(shí)間: 2014-3-28 10:02
          
最簡便的是測出厚度相等或相近的試塊和工件端角回波高度db差（聲程S＞1N），即為表面耦合補(bǔ)償
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-3-28 12:31
          

          楓林晚 發(fā)表于 2014-3-28 10:02
          
最簡便的是測出厚度相等或相近的試塊和工件端角回波高度db差（聲程S＞1N），即為表面耦合補(bǔ)償 ...

          
謝謝參與，有待研究！
          

          
作者: 劉恩凱    時(shí)間: 2014-3-31 20:49
          
其實(shí)有的時(shí)候，我們進(jìn)行檢測的時(shí)候往往參考標(biāo)準(zhǔn)或者教材進(jìn)行硬性的規(guī)定，而不是根據(jù)實(shí)際檢測情況進(jìn)行分析后采用適當(dāng)?shù)姆椒āＳ械臅r(shí)候，對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)要求的提升db值，我們很少去懷疑也很少去研究為什么。對(duì)于一般檢測人員來說，可能唯一答案就是“嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行”。當(dāng)然，這也是正確的做法，有理可具，不被動(dòng)。同樣的問題：聲束能量的衰減量也很少去測量或者忽略不計(jì)。還比如，關(guān)于掃差靈敏度，有的標(biāo)準(zhǔn)要求提高6db，AWS D1.1根據(jù)聲程大小，有的需要提高14db，為什么？
          
關(guān)于表面耦合補(bǔ)償，個(gè)人認(rèn)為取決于表面的粗糙度。說直白就是試塊表面粗糙度和工件表面粗糙度的差值，以試塊表面粗糙度為基準(zhǔn)，測試出不同表面粗糙度的補(bǔ)償值，這樣方便實(shí)際檢測時(shí)候進(jìn)行表面耦合補(bǔ)償。另外，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)表面粗糙度有最低要求。粗糙度值比試塊每增加1，表面補(bǔ)償也增加1db。
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-4-1 20:14
          

          劉恩凱 發(fā)表于 2014-3-31 20:49
          
其實(shí)有的時(shí)候，我們進(jìn)行檢測的時(shí)候往往參考標(biāo)準(zhǔn)或者教材進(jìn)行硬性的規(guī)定，而不是根據(jù)實(shí)際檢測情況進(jìn)行分析后 ...

          
那如何測量呢？
          

          
作者: 77k7777    時(shí)間: 2014-4-1 20:58
          
打磨一下表面，用直探頭測試兩種表面的底波差，考慮到表面狀態(tài)與波長的關(guān)系，例如橫波為2.5M，直探頭宜采用5M。丁老師，這樣可以嗎？
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-4-2 08:03
          

          77k7777 發(fā)表于 2014-4-1 20:58
          
打磨一下表面，用直探頭測試兩種表面的底波差，考慮到表面狀態(tài)與波長的關(guān)系，例如橫波為2.5M，直探頭宜采用 ...

          
測量時(shí)必須采用相同的探頭，因?yàn)榻佑|狀態(tài)不同。該方法不可取！
          

          
作者: 劉恩凱    時(shí)間: 2014-4-2 10:55
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2014-4-1 20:14
          
那如何測量呢？

          
http://wenku.baidu.com/view/cd1a3282d0d233d4b14e699c.html該篇文章值得看看，還望丁老師明鑒
          

          
作者: jxtjndt    時(shí)間: 2014-4-2 12:02
          
 本帖最后由 jxtjndt 于 2014-4-2 12:05 編輯 
          

          
選2個(gè)規(guī)格相同的斜探頭組成一發(fā)一收，分別在對(duì)比試塊和被檢工件母村上做DAC曲線進(jìn)行比較。
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-4-2 20:29
          

          jxtjndt 發(fā)表于 2014-4-2 12:02
          
選2個(gè)規(guī)格相同的斜探頭組成一發(fā)一收，分別在對(duì)比試塊和被檢工件母村上做DAC曲線進(jìn)行比較。 ...

          
有點(diǎn)意思，但具體如何執(zhí)行呢？
          

          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-4-2 20:46
          

          劉恩凱 發(fā)表于 2014-4-2 10:55
          
http://wenku.baidu.com/view/cd1a3282d0d233d4b14e699c.html該篇文章值得看看，還望丁老師明鑒
          
 ...

          
該文章來自國外翻譯，具有一定的借鑒意義！
          
但與日常操作關(guān)系不大！
          

          
作者: jxtjndt    時(shí)間: 2014-4-2 23:27
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2014-4-2 20:29
          
有點(diǎn)意思，但具體如何執(zhí)行呢？

          
1 根據(jù)工件規(guī)格，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)選2個(gè)晶片尺寸、頻率、角度基本相同的斜探頭（其中一個(gè)為檢測用探頭），測定并記錄探頭的各項(xiàng)參數(shù)。
          
2 將儀器調(diào)為一發(fā)一收模式。
          
3 將2個(gè)探頭晶片反方向直接接觸，前后移動(dòng)，找到最高波，調(diào)節(jié)儀器的“零偏”，將最高波移出屏幕0點(diǎn)。
          
4 在儀器上直接輸入已測定好的探頭角度。
          
5 選用與被檢工件材質(zhì)基本相同的標(biāo)準(zhǔn)試塊或?qū)Ρ仍噳K，試塊厚度最好能小于或等于工件厚度（此試塊不一定非要用CSK-ⅡA或ⅢA試塊，只要試塊材質(zhì)及表面粗糙度相同，厚度合適、幾何尺寸滿足要求就可采用）將試塊放平，2探頭相對(duì)（此時(shí)可用一鋼板尺靠住2個(gè)探頭，使之能保持在同一直線上),并使探頭沿鋼板尺前后移動(dòng)，分別找到1倍跨距、2倍跨距的底面反射波，記錄并保存好此DAC曲線。
          
6 在檢測現(xiàn)場，調(diào)出上述DAC曲線，利用上述方法找到工件1倍跨距底面反射波，用閘門罩住此反射波，就會(huì)顯示出DAC±? dB,此讀數(shù)既為偶合補(bǔ)償。此數(shù)值為表面偶合補(bǔ)償、底面反射損失、材質(zhì)衰減損失三者之合。
          

          
作者: luolang1314    時(shí)間: 2014-4-3 06:09
          
 本帖最后由 luolang1314 于 2014-4-3 06:20 編輯 
          

          
一般情況下，很少有人測耦合補(bǔ)償值；個(gè)人覺得，可以考慮用直探頭在試塊上調(diào)好基準(zhǔn)靈敏度（一次底波80%），不改變增益的情況下在工件母材等厚處，測定一次回波高度，依據(jù)回波高度確定補(bǔ)償數(shù)值（4dB以內(nèi)可以考慮不加補(bǔ)償）；如果工件與試塊不等厚，再在測定衰減的情況下，通過計(jì)算進(jìn)行比較；或者將等聲程（工件板厚）處試塊波高（多次底波形成曲線類似于DAC）與工件的一次底波進(jìn)行比較。
          
如果斜探頭，則可參考楓林晚提供過的辦法，用試塊與工件等聲程處端角反射波高進(jìn)行比較。（這個(gè)沒有實(shí)際操作過，個(gè)人覺得用直探頭簡單測定耦合補(bǔ)償就可以了）
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-4-4 18:13
          

          jxtjndt 發(fā)表于 2014-4-2 23:27
          
1 根據(jù)工件規(guī)格，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)選2個(gè)晶片尺寸、頻率、角度基本相同的斜探頭（其中一個(gè)為檢測用探頭），測定并 ...

          
該方法你想過沒有，我們的你所說的DAC是直線還是曲線，如何確定比較值？有點(diǎn)難度！
          

          
作者: manzi    時(shí)間: 2014-4-7 06:19
          
學(xué)習(xí)了
          
作者: 劉恩凱    時(shí)間: 2014-4-8 09:59
          
請給出答案啊 ，丁老師
          
作者: qwe1362005    時(shí)間: 2014-5-4 08:40
          
焦急等待中，丁老師請公布答案可好，學(xué)習(xí)一下
          

          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2014-5-4 17:18
          
等DAKKS現(xiàn)場審核后，估計(jì)5月底吧
          
作者: 河北阿軍    時(shí)間: 2014-5-5 07:55
          
期  待   答   案
          
作者: 楓林晚    時(shí)間: 2014-5-5 21:39
          
可以做一個(gè)對(duì)比試塊進(jìn)行對(duì)比。試塊材質(zhì)可以用50mm左右厚的Q235B或者其他材質(zhì)鋼板，將鋼板線切割成寬度為40mm，長度約為200mm，在10mm、30mm深度的位置鉆fia3的橫通孔，用磨光機(jī)將試塊表面一面打磨平整。然后在RB試塊上做好DAC曲線，再到對(duì)比試塊上對(duì)相應(yīng)深度的孔進(jìn)行波高對(duì)比，比DAC低的db數(shù)，就是表面耦合補(bǔ)償。
          
作者: 孫賢明    時(shí)間: 2015-4-24 17:36
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2014-4-4 18:13
          
該方法你想過沒有，我們的你所說的DAC是直線還是曲線，如何確定比較值？有點(diǎn)難度！
          
 ...

          
我以前也是那么做的，利用1次波和2次做成DAC，開成TCG模式，回波調(diào)成滿屏80%讀數(shù)，再將線調(diào)至滿屏80%讀數(shù)，兩者讀數(shù)差就是耦合補(bǔ)償和傳輸補(bǔ)償?shù)目偤停行┰O(shè)備可以直接讀取波高和曲線的讀數(shù)，就沒有調(diào)成TCG模式手動(dòng)讀數(shù)了。還請丁工指點(diǎn)。
          





          

          

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