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標題: 關于s掃 [打印本頁]
          

          
作者: 浩瀚    時間: 2013-12-26 16:07
          
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作者: 糟老頭子    時間: 2013-12-26 17:43
          
S掃描是扇形掃描，包含一個角度范圍，如對于直楔塊一般為-30度到30度、斜楔塊一般為40度到70度。看看下圖你可能會明白儀器是如何實現角度偏轉并聚焦的。
          
作者: 浩瀚    時間: 2013-12-30 15:17
          
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作者: 糟老頭子    時間: 2013-12-30 19:00
          
1000i沒有動態深度聚焦的功能，儀器的聚焦只是針對某一特定深度
          
作者: 為人民服務    時間: 2013-12-30 21:08
          
奧林巴斯的儀器沒有動態聚焦的，在聚焦深度選項中輸入一定值，在理論上這個就是相控陣S掃的聚焦深度。通常在實際檢測過程中用一次波掃查設置一倍板厚，二次波掃查設置2.2倍板厚。
          
作者: 糟老頭子    時間: 2013-12-31 09:10
          

          為人民服務 發表于 2013-12-30 21:08
          
奧林巴斯的儀器沒有動態聚焦的，在聚焦深度選項中輸入一定值，在理論上這個就是相控陣S掃的聚焦深度。通常 ...

          
“通常在實際檢測過程中用一次波掃查設置一倍板厚，二次波掃查設置2.2倍板厚。”
          
為什么？有什么根據嗎？
          

          
作者: 為人民服務    時間: 2013-12-31 17:57
          

          糟老頭子 發表于 2013-12-31 09:10
          
“通常在實際檢測過程中用一次波掃查設置一倍板厚，二次波掃查設置2.2倍板厚。”
          
為什么？有什么根據嗎？ ...

          
培訓的時候老師將的，呵呵。目前沒有相關的標準
          

          
作者: 糟老頭子    時間: 2013-12-31 21:32
          

          為人民服務 發表于 2013-12-31 17:57
          
培訓的時候老師將的，呵呵。目前沒有相關的標準

          


          
我認為在相控陣檢測中，如果不是針對某一個深度進行針對性的檢測，應把聚焦深度設置的足夠大（例如500mm），以便于聲束不會出現明顯的在焦距外的衰減情況。
          
作者: 為人民服務    時間: 2013-12-31 23:42
          

          糟老頭子 發表于 2013-12-31 21:32
          
我認為在相控陣檢測中，如果不是針對某一個深度進行針對性的檢測，應把聚焦深度設置的足夠大（例如500mm ...

          
我測試焦距設置大會影響缺陷的波高。我測試的方法是：采用相控陣B型試塊，有一排10mm等深度的橫通孔，焦距分別設置到10mm，15mm，30mm，探頭不移動，只改變焦距大小，同一橫通孔的波高變化比較大的。理論上講10mm聚焦深度波高最高，30mm聚焦深度波高最小。實際也驗證這樣的結果，所以我認為檢測過程中要合理設置聚焦深度。
          

          
作者: 浩瀚    時間: 2014-7-1 14:05
          
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作者: 為人民服務    時間: 2014-7-21 19:07
          

          浩瀚 發表于 2014-7-1 14:05
          
您好，倘若是S掃，此時聚焦深度能理解成聚焦半徑嗎？還是就是說在特定深度上聚焦呢？
          
 ...

          
相控陣S掃，在一般的檢測過程中聚焦深度是指所有角度聚焦到真實的某一相同的深度。在通常檢測過程中可以把聚焦深度設置到掃查區域以外，如果采用二次波覆蓋，則可以設置2.2倍。在相控陣報批稿中有相關的介紹。
          





          

          

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