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標題: 探傷儀縱波斜入射掃查時會出現的情況 [打印本頁]
          

          
作者: 探傷機    時間: 2013-12-2 16:37
          
標題: 探傷儀縱波斜入射掃查時會出現的情況
          第一種情況是沒有缺陷波，僅有孤立的底波，無附著雜波，波幅清晰，聲壓高。判定無裂紋。
          
第二種情況是當探頭沿園周轉動時，底波附近無缺陷部位可能出現類似缺陷的較強反射波群，此時除底波反射當量較強外，其它雜波起伏不定，移動探頭此起彼伏，無指示長度，變化較大，反射當量偏低，屬較明顯的點狀缺陷反射波，實測證明屬瓷件表面波紋或水泥膠結的砂粒透入波。系制造廠將支柱瓷絕緣子插入鑄鐵法蘭時在園周填充灌注的水泥膠與砂粒，這些膠合的砂粒作為過渡加強部分環繞在鑄鐵法蘭與瓷體的交接面上，而此處正是裂紋形成的區域，因此，在超聲波掃查時，必須將此波與裂紋波區分開來。搜索到缺陷波時應盡可能與底波同呈，因為同呈時分辨率最高，容易辯認。
          
第三種情況是缺陷波與底波同呈時，二波信號比<6db，即缺陷波信號低于底波信號，且缺陷波指示長度 <10mm時應判定為表面損傷。>10mm時可判定為裂紋。
          
缺陷波與底波同呈時，二波信號比基本相等，且指示長度<10mm時判定為點狀缺陷，指示長度>10mm時應判定為裂紋。
          
缺陷波與底波同呈時，二波信號比>6db，既缺陷波信號強于底波信號，且指示長度>10mm時應判定為裂紋。
          
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