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標題: 長沙鵬翔科技--磁盤表面光滑度檢測 [打印本頁]
          

          
作者: tl130408    時間: 2013-9-24 09:37
          
標題: 長沙鵬翔科技--磁盤表面光滑度檢測
           本帖最后由 tl130408 于 2013-9-24 09:39 編輯 
          

          

          
實驗研究了不同磁頭飛行狀態下磁頭磁盤界面聲發射信號的特性，分析了各種情況下的聲發射信號的頻率特性，利用磁頭懸臂振動時產生的聲發射信號作為對比，驗證了磁頭懸臂振動產生的聲發射信號與磁頭磁盤碰撞接觸緊密相關，是磁頭磁盤碰撞聲發射信號的重要來源，可以作為判斷頭盤界面接觸和碰撞的依據，利用它可以提高聲發射信號對磁頭磁盤界面碰撞接觸檢測的靈敏度。
          
存貯位密度是磁盤的主要性能指標之一.由經典公式知道,位密度D滿足下面關系:1/D～((a+h)~2+(g/2)~2)~(1/2)式中a和g分別由磁層的特性和磁頭的結構所決定.因此,提高磁盤存貯的位密度,降低磁頭的浮動高度h是重要手段之一.事實上,經嚴格拋光處理的磁盤表面,仍存在著妨礙磁頭浮動高度降低的小突起.它們非常細小,以至用常規方法很難檢測.用聲發射方法可以進行檢測.
          

          
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