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標(biāo)題: 如何避免此類近表面缺陷漏檢？ [打印本頁(yè)]
          

          
作者: 乄Cappuccino    時(shí)間: 2013-6-25 23:50
          
標(biāo)題: 如何避免此類近表面缺陷漏檢？
          實(shí)心軸類鍛件，粗車后（余量關(guān)系仍有部分氧化皮）UT檢測(cè)未發(fā)現(xiàn)缺陷顯示，表面目視除了氧化皮區(qū)域有開口缺陷，其他目視無(wú)異常。熱處理后檢測(cè)依然無(wú)缺陷顯示，但再加工時(shí)，單面車掉4mm左右發(fā)現(xiàn)有半圓弧形條形夾渣類缺陷（圓弧長(zhǎng)度10mm左右），缺陷離氧化皮區(qū)域幾公分。由于軸不是特別圓整，另一邊單邊車掉有8mm左右，無(wú)缺陷。個(gè)人判定是加工余量留太小的緣故（還留下一小塊氧化皮沒(méi)車掉），偏心加工可能可以避免該缺陷。但常規(guī)檢測(cè)下（不追加橫波檢測(cè)），大部分人都會(huì)使用2.5M20D或14D直探頭去檢測(cè)，如何能避免此類近表面缺陷漏檢呢？請(qǐng)指教，十分感謝。
          
題外話：老板有點(diǎn)信奉UT萬(wàn)能。。抓質(zhì)量，要求100%不漏檢。。鴨梨山大啊！！
          
作者: luolang1314    時(shí)間: 2013-6-26 06:54
          
近表面缺陷，一般為超聲直探頭檢測(cè)盲區(qū)內(nèi)。同時(shí)一般單直探頭始波太寬，的確不利于近表缺陷檢出。檢測(cè)前進(jìn)行打磨或簡(jiǎn)單機(jī)加，改善表面光潔度和粗糙度。必要時(shí)采用雙面檢測(cè)、雙晶直探頭對(duì)近表面進(jìn)行檢測(cè)，改善上下表面盲區(qū)。
          
Ut不是萬(wàn)能的。耐心給老板解釋。必要時(shí)，請(qǐng)專家給其解釋。
          
作者: 乄Cappuccino    時(shí)間: 2013-6-26 12:52
          
 本帖最后由 乄Cappuccino 于 2013-6-27 15:01 編輯 
          

          luolang1314 發(fā)表于 2013-6-26 06:54
          
近表面缺陷，一般為超聲直探頭檢測(cè)盲區(qū)內(nèi)。同時(shí)一般單直探頭始波太寬，的確不利于近表缺陷檢出。檢測(cè)前進(jìn)行 ...

          
老板有點(diǎn)一根筋。。解釋過(guò)了。。我說(shuō)這類近表面缺陷UT檢測(cè)本來(lái)就不易發(fā)現(xiàn)，。而且有些是加工余量問(wèn)題。。。他說(shuō)這類近表面缺陷漏檢他風(fēng)險(xiǎn)太大。。。如果批量生產(chǎn)的話，換不同探頭整個(gè)360度檢測(cè)也不太現(xiàn)實(shí)。。。唉，現(xiàn)在只要一有問(wèn)題就到我頭上。。。之前做的試塊UT出來(lái)沒(méi)缺陷。。。金相做下來(lái)部分粒子跟沒(méi)鍛打過(guò)一樣。。又是我的問(wèn)題。。。。
          

          
作者: 乄Cappuccino    時(shí)間: 2013-6-26 12:55
          

          楓林晚 發(fā)表于 2013-6-26 08:02
          
沒(méi)有哪一種檢測(cè)方法是萬(wàn)能的，不然 其他的檢測(cè)方法就可以完全淘汰了

          
對(duì)的，都是相輔相成的
          

          
作者: 鐵牛7200    時(shí)間: 2013-6-26 19:19
          
每種檢測(cè)方法都有它的局限性。
          
作者: 高飛    時(shí)間: 2013-6-26 22:04
          
沒(méi)有百分之百的檢測(cè)，那要是這樣，什么都可以用超聲了，還要其他方法干嘛，各種方法都有優(yōu)缺點(diǎn)，互相補(bǔ)充
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-6-27 00:43
          

          乄Cappuccino 發(fā)表于 2013-6-26 12:52  老板有點(diǎn)一根筋。。解釋過(guò)了。。我說(shuō)這類近表面缺陷UT檢測(cè)本來(lái)就不易發(fā)現(xiàn)，。而且有些是加工余量問(wèn)題。。 ...

          
普通探頭檢測(cè)表面與近表面缺陷，正如你所說(shuō)的：每種方法都不是萬(wàn)能的。建議采用：表面波、雙晶、渦流、磁粉、滲透等
          
另外你說(shuō)從金相中看到有的地方晶粒像是沒(méi)鍛打過(guò)，這么好的金相圖不知道能否發(fā)上來(lái)大家一起欣賞下？
          
作者: 乄Cappuccino    時(shí)間: 2013-6-27 15:05
          

          糟老頭子 發(fā)表于 2013-6-27 00:43
          
普通探頭檢測(cè)表面與近表面缺陷，正如你所說(shuō)的：每種方法都不是萬(wàn)能的。建議采用：表面波、雙晶、渦流、磁 ...

          
其他的方式就需要配備相應(yīng)設(shè)備和人員了...雙晶的話應(yīng)該也不能100%避免漏檢。。還是有盲區(qū)。。。主要還是老板認(rèn)死理。。。要消滅漏檢。。唉。。。機(jī)器做的事都有出問(wèn)題的事。。。何況人呢。。。那個(gè)金相不是我們做的，是客戶做的。。客服發(fā)給我們的回復(fù)就是部分粒子沒(méi)鍛打過(guò)。。不過(guò)這個(gè)是去年的事了。。。不是一碼事
          





          

          

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