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          遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)資訊網(wǎng)

          標(biāo)題: 相控陣直探頭檢測(cè)-靈敏度的選擇 [打印本頁(yè)]

          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-20 17:25
          標(biāo)題: 相控陣直探頭檢測(cè)-靈敏度的選擇
            今天在做相控陣直探頭檢測(cè)T=20mm平板,發(fā)現(xiàn)一個(gè)問(wèn)題:
          1、隨著增益調(diào)大時(shí),在B型圖像上出現(xiàn)了許多缺陷,通過(guò)看深度數(shù)值 都小于20mm, 該怎么去區(qū)分真實(shí)缺陷和未缺陷呢??

          作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-5-20 17:32
          能傳個(gè)圖看看嗎?
          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-21 08:52
          糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-20 17:32
          能傳個(gè)圖看看嗎?

          我這里沒(méi)有存圖像!不好意思!

          你可以試著將探頭放在平板焊縫上,一目了然。

          作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-5-21 09:09
          Ansan 發(fā)表于 2013-5-21 08:52
          我這里沒(méi)有存圖像!不好意思!

          你可以試著將探頭放在平板焊縫上,一目了然。

          你是檢測(cè)焊縫還是母材?
          作者: 王聯(lián)國(guó)    時(shí)間: 2013-5-21 10:13
          {:soso_e100:}
          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-21 15:11
          糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-21 09:09
          你是檢測(cè)焊縫還是母材?

          檢測(cè)人工T型焊縫。。我采用直探頭線性掃查,探頭放置在翼板外側(cè)。
          1、翼板和腹板的厚度都是20mm
          2、單V型坡口
          檢測(cè)時(shí):
          1、 在同一增益下,人工缺陷很明顯;但是B型圖像上出現(xiàn)靈敏度較低的圓形圖像,此時(shí)增大增益時(shí),深度數(shù)值都大約在15-20mm之間。
          2、根據(jù)上述的情況,直探頭檢測(cè)時(shí),沒(méi)有什么辦法去辨別是真缺陷還是幾何缺陷。。
          3、在使用斜探頭時(shí),我們可以采用反射波原理和水平數(shù)值來(lái)進(jìn)行辨別的。


          以上問(wèn)題是我在檢測(cè)過(guò)程中,遇到的問(wèn)題;
          望高手們不吝賜教!!!{:soso_e178:}

          作者: allen_hay    時(shí)間: 2013-5-21 16:55
          1。 該問(wèn)題在掃非焊縫區(qū)域時(shí)是否依然存在?
          2。 出現(xiàn)的回波是大量出現(xiàn)還是時(shí)有時(shí)無(wú)?
          3。 你說(shuō)的現(xiàn)象我曾今做過(guò),當(dāng)時(shí)是按照焊縫中有相關(guān)缺陷判斷的,由于深度出現(xiàn)在一倍板厚內(nèi),不存在幾何結(jié)構(gòu)的問(wèn)題,如可以排除脈沖重復(fù)頻率過(guò)高,個(gè)人認(rèn)為焊縫的熱影響區(qū)位置存在當(dāng)量較小的缺陷。
          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-21 23:34
          allen_hay 發(fā)表于 2013-5-21 16:55
          1。 該問(wèn)題在掃非焊縫區(qū)域時(shí)是否依然存在?
          2。 出現(xiàn)的回波是大量出現(xiàn)還是時(shí)有時(shí)無(wú)?
          3。 你說(shuō)的現(xiàn)象我曾今 ...

          再次補(bǔ)充說(shuō)明一下:
          1、在同一增益、同一條件下:
          a.將探頭放置在翼板外側(cè),線性掃查、只放置在焊縫對(duì)應(yīng)的板材上時(shí),出現(xiàn)很多靈敏度低的圓形圖像,此時(shí)增大增益時(shí),閘門測(cè)A型波,出現(xiàn)的缺陷深度都在小于20mm。
            問(wèn)題是:如果未知板材是否存在缺陷的條件下,是不是會(huì)引起誤判?? 我這里的人工T型試塊是沒(méi)有缺陷的?。?br /> b.將探頭放置在翼板旁邊的母材上,卻沒(méi)有出現(xiàn)任何靈敏度低的圓形圖像,僅僅是有底波的反射波??!

          綜合因素:
          1.引起這現(xiàn)象的原因 有那幾種??
          2.怎么去判別這樣的缺陷呢?
          作者: allen_hay    時(shí)間: 2013-5-22 15:31
          你將該現(xiàn)象重復(fù)一下,扶穩(wěn)探頭,降低設(shè)備的脈沖重復(fù)頻率,看該現(xiàn)象還存不存在。
          如果仍然存在,換一個(gè)常規(guī)直探頭提高增益,上去掃一下,看是否有同樣的現(xiàn)象出現(xiàn)。

          如果降低了脈沖重復(fù)頻率,該現(xiàn)象消失,那么說(shuō)明是波束在焊縫中的多次反射誤被接收。如果常規(guī)直探頭也有相關(guān)顯示說(shuō)明那個(gè)地方確實(shí)有問(wèn)題。

          樓上意下如何??
          作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-5-22 17:53
          Ansan 發(fā)表于 2013-5-21 15:11
          檢測(cè)人工T型焊縫。。我采用直探頭線性掃查,探頭放置在翼板外側(cè)。
          1、翼板和腹板的厚度都是20mm
          2、單V型 ...

          不好意思,我還是不明白你的問(wèn)題是什么。能再詳細(xì)說(shuō)下嘛?
          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-22 19:26
          糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-22 17:53
          不好意思,我還是不明白你的問(wèn)題是什么。能再詳細(xì)說(shuō)下嘛?

          同志,你好!{:soso_e100:}
            我已經(jīng)描述的很清楚了,麻煩你再次推敲一下! 應(yīng)該有所發(fā)現(xiàn)!會(huì)明白我的問(wèn)題的!!
          我挺你~!

          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-22 19:30
          allen_hay 發(fā)表于 2013-5-22 15:31
          你將該現(xiàn)象重復(fù)一下,扶穩(wěn)探頭,降低設(shè)備的脈沖重復(fù)頻率,看該現(xiàn)象還存不存在。
          如果仍然存在,換一個(gè)常規(guī) ...

          你的提示很好!
          1、首先降低重復(fù)頻率時(shí),并沒(méi),沒(méi)有引起相關(guān)圖示的靈敏度較低,所以可以斷定:和重復(fù)頻率沒(méi)有關(guān)系的!
          2、目前我沒(méi)有采用常規(guī)的探頭進(jìn)行檢測(cè);但是你的提示,經(jīng)過(guò)多次反射形成的誤接收。
                這也許是唯一的解釋了。。

          作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-5-22 20:56
          Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 19:30
          你的提示很好!
          1、首先降低重復(fù)頻率時(shí),并沒(méi),沒(méi)有引起相關(guān)圖示的靈敏度較低,所以可以斷定:和重復(fù)頻 ...

          不知是不是因?yàn)槲业睦斫饽芰Ρ容^差,還是不太明白你問(wèn)題的所在。
          增加增益后,靈敏度提高,工件中的噪聲或小的缺陷當(dāng)然會(huì)顯示出來(lái),這很正常啊?你還是傳個(gè)圖片詳細(xì)你的問(wèn)題為好,畢竟超聲波這東西也不是很好理解的,樓下,你說(shuō)呢?
          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-22 23:07
          糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-22 20:56
          不知是不是因?yàn)槲业睦斫饽芰Ρ容^差,還是不太明白你問(wèn)題的所在。
          增加增益后,靈敏度提高,工件中的噪聲 ...

          你提到的‘“工件中的噪聲或者小缺陷”,我這有個(gè)疑問(wèn)!
          條件: 使用相控陣直探頭,增益讀數(shù)為40dB,去檢測(cè)鋼板T=20mm, 如果發(fā)現(xiàn)相關(guān)顯示的深度數(shù)值小于20mm的缺陷。。你如何去辨別是噪聲還是缺陷呢??

          作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-5-22 23:24
          Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 23:07
          你提到的‘“工件中的噪聲或者小缺陷”,我這有個(gè)疑問(wèn)!
          條件: 使用相控陣直探頭,增益讀數(shù)為40dB,去檢 ...

          工件中存在對(duì)后期使用時(shí)造成負(fù)面影響的“不連續(xù)”被定義為“缺陷”,你在校準(zhǔn)好儀器靈敏度后,只要不連續(xù)的信號(hào)超過(guò)了你的檢出界限,那你就可以定義這個(gè)信號(hào)為缺陷信號(hào)了。
          你在儀器上區(qū)別不出哪個(gè)是不連續(xù),那個(gè)是噪聲信號(hào)嗎?信噪比如此之低?還是你們的“檢出界限”過(guò)于苛刻?

          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-22 23:38
          糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-22 23:24
          工件中存在對(duì)后期使用時(shí)造成負(fù)面影響的“不連續(xù)”被定義為“缺陷”,你在校準(zhǔn)好儀器靈敏度后,只要不連續(xù) ...

          我不敢茍同!
          相控陣技術(shù),存在許多幾何缺陷,類似柵瓣!
          你覺(jué)得用‘檢出界限’來(lái)判別真實(shí)缺陷和未缺陷,你覺(jué)得合適嗎??

          作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-5-23 09:05
          Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 23:38
          我不敢茍同!
          相控陣技術(shù),存在許多幾何缺陷,類似柵瓣!
          你覺(jué)得用‘檢出界限’來(lái)判別真實(shí)缺陷和未缺陷 ...

          本來(lái)就是這樣判斷的,你看常規(guī)超聲做定量曲線(dac dgs),一樣的
          作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-5-23 09:10
          Ansan 發(fā)表于 2013-5-22 23:38
          我不敢茍同!
          相控陣技術(shù),存在許多幾何缺陷,類似柵瓣!
          你覺(jué)得用‘檢出界限’來(lái)判別真實(shí)缺陷和未缺陷 ...

          你覺(jué)得相控陣不能定量嗎?
          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-23 11:28
          糟老頭子 發(fā)表于 2013-5-23 09:10
          你覺(jué)得相控陣不能定量嗎?

          首先一點(diǎn)相控陣能定量!但是目前的技術(shù)只是利用演變下來(lái)的TCG進(jìn)行定量。
          但是它比常規(guī)超聲復(fù)雜性強(qiáng),存在的幾何形狀相關(guān)圖示很多。   這就需要深入研究相控陣的原理(特別是在聲束上)+常規(guī)超聲反射和折射原理,綜合考慮才能不引起誤判。
          所以在你提出的僅僅依據(jù)“根據(jù)DAC”來(lái)判定缺陷,這是我不附議的原因所在。
          再舉個(gè)例子:
             假如使用直探頭檢測(cè)平板,發(fā)現(xiàn)了靈敏度的偏低的相關(guān)圖示,經(jīng)過(guò)參考了深度數(shù)值,相關(guān)圖示是在板材內(nèi),但是波幅比我們預(yù)定TCG的波幅低。。
            但是我們并不能說(shuō)明缺陷,不存在。

          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-24 09:19
          {:soso_e100:}
          作者: 天道酬勤    時(shí)間: 2013-5-30 11:42
          好激烈啊 樓主你是用的奧林巴斯的儀器嗎?
          作者: Ansan    時(shí)間: 2013-5-30 11:49
          天道酬勤 發(fā)表于 2013-5-30 11:42
          好激烈啊 樓主你是用的奧林巴斯的儀器嗎?

          不是!!用的是汕頭研究所的?。?br />
          作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-5-31 21:59
          Ansan 發(fā)表于 2013-5-23 11:28
          首先一點(diǎn)相控陣能定量!但是目前的技術(shù)只是利用演變下來(lái)的TCG進(jìn)行定量。
          但是它比常規(guī)超聲復(fù)雜性強(qiáng),存 ...

          工件中,不可能是完美無(wú)瑕的,都或多或少存在一些不連續(xù),這些不連續(xù)也可能會(huì)在檢測(cè)圖像(如你說(shuō)的扇形掃描)上體現(xiàn)出來(lái)。
          這是很正常的現(xiàn)象啊
          作者: xxdx512    時(shí)間: 2013-6-4 11:05
          看高手之間的對(duì)話可以學(xué)到好多啊~~~
          作者: jorsonsh    時(shí)間: 2013-9-13 09:04
          {:soso_e163:}




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