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標(biāo)題: 相控陣缺陷尺寸測量的問題 [打印本頁]
          

          
作者: furulong    時間: 2013-5-13 09:56
          
標(biāo)題: 相控陣缺陷尺寸測量的問題
          在研究相控陣聚焦法則的原理時，發(fā)現(xiàn)在線掃或在扇掃圖像上直接測量缺陷的二維尺寸，可能不精確的問題，如圖：發(fā)射聲束為黑色線，合成聲束為粗的一條紅線，缺陷偏離合成聲束。雖然缺陷偏離合成聲束，但是缺陷的反射回波仍然可以被探頭接收，所以合成的聲束信息里也包括缺陷的信息。這樣，不管是扇掃圖像，抑或是線掃圖像，如果缺陷不在發(fā)射聲束的聚焦點上，則缺陷的尺寸就有可能被放大，因此在扇掃圖像或者線掃圖像測量缺陷的長度或?qū)挾染蜁嬖谳^大的誤差。歡迎大家參與這個問題的討論，在扇掃或線掃的圖像上能否對缺陷的尺寸進行測量，測量的誤差有多大？
          
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作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-13 11:08
          
當(dāng)然可以對缺陷定量，誤差嘛，不好說，很多因素影響，例如校準的好壞等
          
作者: 探傷工    時間: 2013-5-13 16:49
          
估計你是搞電子或者軟件背景的吧。
          
建議從空間聲場分布的角度來考慮問題。
          
分辨率和電子聚焦之間的關(guān)系。
          
作者: allen_hay    時間: 2013-5-16 09:11
          
如果不是使用特征點測量的方法（例如尖端衍射信號）的話，誤差會很大。缺陷在相控陣掃描圖像上的成像跟很多因素有關(guān)，比如波束的擴散特性，角度的準確性，缺陷的走向等。個人不認為這些成像顯示能直接進行缺陷定量測量，很簡單的道理，同樣的一個缺陷，如用大角度部分去測，和用小角度部分去測，很可能得出完全不同的大小。
          
作者: furulong    時間: 2013-5-17 15:29
          
謝謝大家的分享意見，也就是說，其實相控陣所成的圖像還不能真正反映缺陷的輪廓情況，換句話說，很難根據(jù)相控陣圖像對缺陷進行定性。
          
作者: 糟老頭子    時間: 2013-5-17 18:43
          

          furulong 發(fā)表于 2013-5-17 15:29 
          
謝謝大家的分享意見，也就是說，其實相控陣所成的圖像還不能真正反映缺陷的輪廓情況，換句話說，很難根據(jù)相 ...

          
如果相控陣很難對缺陷定性，那常規(guī)超聲就更難。
          
作者: 滄海    時間: 2013-5-18 15:53
          
{:soso_e163:}
          
作者: xxdx512    時間: 2013-6-4 11:16
          
我還是一頭霧水，我這樣理解正確嗎？相控陣技術(shù)也并不能很精確地對缺陷進行定量，在對缺陷進定量時，比如運用端點6dB法，，其實和常規(guī)是一樣的。是不是這樣理解？望各位牛人解答疑惑




          

          

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