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標(biāo)題: HS610e超聲波探傷儀操作說明書 [打印本頁(yè)]
作者: 000040 時(shí)間: 2013-3-26 12:13
標(biāo)題: HS610e超聲波探傷儀操作說明書
本帖最后由 000040 于 2013-3-26 12:14 編輯
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1、 鍵盤簡(jiǎn)介
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| | | 探頭零點(diǎn)自動(dòng)校準(zhǔn)熱鍵 |
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| | | 波形凍結(jié)/輸入命令、數(shù)據(jù)認(rèn)可鍵 |
| | | 顯示屏彩色切換鍵 （注：HS611e無(wú)此功能鍵） |
| | | 關(guān)閉屏幕顯示，進(jìn)入節(jié)電狀態(tài) |
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| 旋鈕鍵主要用于數(shù)字輸入、增減、左右、上下調(diào)節(jié)和功能選擇及確認(rèn)等功能。 | 左旋：等同左/下方向鍵 操作方式 右旋：等同右/上方向鍵 單擊：輕輕按下旋鈕，馬上松開，讓旋鈕彈起 按擊：按住旋鈕不放，停留兩秒，然后松開 （單擊用于確認(rèn)或進(jìn)入各功能狀態(tài)，按擊用于退出各功能狀態(tài)） |
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2、 功能選擇之間的操作關(guān)系
儀器的功能及其邏輯關(guān)系
1）自動(dòng)調(diào)校功能
? 范圍/零偏：探傷范圍的調(diào)節(jié) / 探頭入射零點(diǎn)的調(diào)節(jié)
? 聲速：材料聲速（0～9000）m/s 連續(xù)調(diào)節(jié)
? K值： 斜探頭的折射角（K值）測(cè)量
·Φ值計(jì)算：當(dāng)量Φ值計(jì)算
2）閘門功能
? 范圍/平移：（0～5500）㎜掃查范圍的無(wú)級(jí)調(diào)節(jié)/脈沖平移調(diào)節(jié)
? 閘門操作：閘門移位/閘門寬度/閘門高度調(diào)節(jié)
? 閘門選擇：閘門A/B選擇
? 動(dòng)態(tài)回放：回波全動(dòng)態(tài)記錄回放
3）曲線功能
? 制 作：制作距離—波幅曲線
? 調(diào) 整：修整已制作的距離—波幅曲線
? 刪 除：刪除已制作的距離波—幅曲線
? 距離補(bǔ)償：作好波幅曲線后啟動(dòng)遠(yuǎn)距離補(bǔ)償功能
4）輸出功能
? 讀出：顯示當(dāng)前讀出號(hào)的缺陷波形及數(shù)據(jù)
? 刪除：刪除當(dāng)前存貯號(hào)或連續(xù)存貯區(qū)間的缺陷波形及數(shù)據(jù)
? 通訊：將存儲(chǔ)的缺陷波形及數(shù)據(jù)傳送到計(jì)算機(jī)
? 打印：打印探傷報(bào)告
5）包絡(luò)功能：對(duì)缺陷回波進(jìn)行波峰軌跡描繪，輔助對(duì)缺陷定性判斷。
6）增益/自動(dòng)增益功能：手動(dòng)調(diào)節(jié)儀器靈敏度/自動(dòng)波高調(diào)節(jié)儀器靈敏度（80%）。
7）波峰記憶：對(duì)閘門內(nèi)動(dòng)態(tài)回波進(jìn)行最高回波的檢搜，并保留在屏幕上。
8）動(dòng)態(tài)記錄：對(duì)掃查的回波進(jìn)行實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄。
9）色彩切換：對(duì)屏幕顯示色彩（前景、背景）進(jìn)行切換。（HS611e無(wú)此鍵）
10）報(bào) 警：閘門內(nèi)的缺陷回波高于閘門/曲線高度時(shí)，儀器發(fā)出聲響提示
11）傷波存儲(chǔ)：將屏幕上的回波及其相應(yīng)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在儀器存貯器中。
12）抑 制：調(diào)節(jié)抑制雜波比例。
13）通 道：通道切換選擇
：子功能對(duì)應(yīng)選擇鍵，配合“確認(rèn)”鍵或旋鈕使用。
HS610e與HS611e操作方法相同（除ＨＳ６１１e無(wú)色彩切換外），下面的章節(jié)中以HS610e為例進(jìn)行講解，HS611e型可參照使用
3、 開機(jī)
HS610e型數(shù)字式超聲波探傷儀采用交直流兩用供電方式，只要儀器有電源供電，按 鍵兩秒鐘左右，直到電源指示燈亮。儀器首先出現(xiàn)“漢威”注冊(cè)商標(biāo)，然后進(jìn)行儀器自檢。
儀器自檢通過后，即進(jìn)入開機(jī)界面狀態(tài)，見圖3-1。
說明：在縱波直探頭的情況下。 聲程（S） 即聲波從工件表面至缺陷的垂直距離。 沒有顯示。在橫波斜探頭的情況下。 表示聲程（S） 表示水平距離（L）。指的是探頭前端至缺陷的水平距離（已減掉前沿）。 表示垂直距離
儀器的調(diào)校：
（1） 準(zhǔn)備工作：HS610e或HS611e儀器、斜探頭、CSK-IA試塊一塊、CSK-ⅢA試塊一塊、耦合劑、探頭連接線。
（2） 將探頭與儀器連接好。按鍵或右轉(zhuǎn)旋鈕到參數(shù)欄單擊，進(jìn)入?yún)?shù)列表，按 鍵或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕將光標(biāo)移到探頭類型欄，按 鍵或單擊旋鈕將探頭類型改為斜探頭。（如果參數(shù)中探頭已經(jīng)是斜探頭類型，則無(wú)需改變）按 鍵或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕到 退出欄單擊，返回探傷界面。
（3） 斜探頭橫波入射零點(diǎn)自動(dòng)校準(zhǔn)： 按 鍵或右轉(zhuǎn)旋鈕到自動(dòng)調(diào)校欄，單擊旋鈕，進(jìn)入自動(dòng)校準(zhǔn)功能，此時(shí)，回波顯示區(qū)的右上角顯示“自動(dòng)校準(zhǔn)”的字樣。屏幕下方提示：“請(qǐng)輸入材料聲速：5940m/s”, 此時(shí)向左調(diào)節(jié)旋鈕將聲速調(diào)整為3240 m/s(或按下5940正下方對(duì)應(yīng)的 鍵，切換聲速為3240 m/s)，再單擊旋鈕或按 鍵，儀器繼續(xù)提示：“請(qǐng)輸入起始距離：50mm”，單擊旋鈕（或按 鍵），再提示：“請(qǐng)輸入終止距離：100mm”，單擊旋鈕（或按 鍵），此時(shí)屏幕上顯示兩個(gè)閘門（注：前者為A閘門，后者為B閘門），自動(dòng)停留在50，100mm的位置上。進(jìn)入入射點(diǎn)測(cè)試，方法如下：將探頭放在IA試塊上，平行的前后移動(dòng)，找出波形的顯示，如果波形不在屏幕內(nèi)時(shí)可單擊旋鈕，使范圍變?yōu)榱闫?或調(diào)節(jié)旋鈕將零偏的數(shù)值增大，直至R100mm的回波慢慢移進(jìn)閘門B中，再按 鍵或向右調(diào)節(jié)旋鈕到波峰記憶欄單擊旋鈕，然后向右調(diào)節(jié)旋鈕到自動(dòng)增益欄單擊旋鈕或按自動(dòng) 鍵，將波形提高到80%，前后平行移動(dòng)探頭，尋找50mm，100mm，兩個(gè)最大反射波，此時(shí)若波峰高出滿屏或低于30％，向右調(diào)節(jié)旋鈕到自動(dòng)增益欄單擊旋鈕或按 鍵將波形升或降到80％，反復(fù)上述直至確定最高反射波，此時(shí)看50mm的波是否在屏幕上達(dá)20％以上。若低于，可平行的向50mm的面橫移探頭，直至50mm的波顯示在屏幕上，固定探頭不動(dòng)，向左調(diào)節(jié)旋鈕到確認(rèn)欄單擊旋鈕或按 鍵此時(shí)儀器自動(dòng)校準(zhǔn)，數(shù)秒鐘后，屏幕上提示“校準(zhǔn)完畢”。完畢后手仍固定探頭不動(dòng)，用鋼尺測(cè)量探頭前端到CSK－IA試塊R100端邊的距離X，然后用100-X所得到的數(shù)值就是探頭的前沿值。按 鍵或向右調(diào)節(jié)旋鈕到參數(shù)欄，單擊旋鈕進(jìn)入?yún)?shù)列表，用 或左右調(diào)節(jié)旋鈕將光標(biāo)移動(dòng)到探頭前沿欄單擊旋鈕或按 鍵進(jìn)入?yún)?shù)修改狀態(tài)，向右調(diào)節(jié)旋鈕或使用 將前沿值輸入后，單擊旋鈕或按 鍵完成參數(shù)修改。最后按 鍵退出探傷參數(shù)，或調(diào)節(jié)旋鈕將光標(biāo)移動(dòng)到 退出欄單擊旋鈕返回探傷界面。
（4） 斜探頭“K”值自動(dòng)測(cè)試方法：按K值相對(duì)應(yīng)的 鍵或旋轉(zhuǎn)旋鈕到 K值 欄單擊旋鈕，此時(shí)該欄反顯。屏幕下方出現(xiàn)：“請(qǐng)選擇K值測(cè)試方式：手動(dòng)”，向左調(diào)節(jié)旋鈕或按左下方向鍵 后，屏幕下方提示：“請(qǐng)選擇K值測(cè)試方式：自動(dòng)”單擊旋鈕或按 鍵確認(rèn)后，屏幕下方提示：“請(qǐng)輸入測(cè)試孔徑”，轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕輸入個(gè)人所測(cè)試的實(shí)際孔徑：Φ=X.XX（儀器初始值為50mm），單擊旋鈕,屏幕下方又提示：“請(qǐng)輸入測(cè)試深度”（儀器初始值是30mm，根據(jù)個(gè)人要求不同，將初始深度30mm改為個(gè)人所測(cè)試的實(shí)際垂直深度數(shù)值），輸入后單擊旋鈕，此時(shí)進(jìn)入自動(dòng)測(cè)K值狀態(tài)。
（5）操作方法：（以CSK-IA試塊為例）
將探頭放置在CSK-IA試塊Φ=50mm孔上方，并找出所測(cè)孔的反射波，左右調(diào)節(jié)旋鈕移動(dòng)閘門（也可按 或 左右移動(dòng)）套住該孔反射波，按峰值記憶鍵 ，前后移動(dòng)探頭，找出該孔的最高反射波（注：此時(shí)回波若高于滿屏，或低于20％，可按一下 鍵，將波提高或衰減到80％，反復(fù)上述操作，直至找出最高反射波，單擊旋鈕屏幕下方會(huì)出現(xiàn)實(shí)測(cè)K值X.XX，。此時(shí)，所測(cè)試的實(shí)際K值，自動(dòng)存入該通道參數(shù)的K值一欄，K值自動(dòng)測(cè)試完畢。
（6）距離波幅曲線的制作（DAC）（以CSK-ⅢA試塊為例）
按 鍵或右轉(zhuǎn)旋鈕到曲線欄，進(jìn)入曲線制作功能菜單。按制作相對(duì)應(yīng)的 鍵或單擊旋鈕，此時(shí)該欄反顯，此時(shí)滾出一個(gè)提示信息：請(qǐng)用閘門鎖定測(cè)試點(diǎn)！信息消失后制作變?yōu)殚l門移位（此時(shí)按其對(duì)應(yīng)的 鍵或單擊旋鈕可對(duì)閘門移位、范圍和閘門寬度三種功能進(jìn)行切換便于曲線制作中調(diào)節(jié)閘門位置、范圍和閘門寬度），閘門移位的位置反顯，同時(shí)屏幕上方顯示：測(cè)試點(diǎn)“1”閃爍，此時(shí)持探頭在ⅢA試塊尋找要測(cè)試孔的回波，如測(cè)10mm深的孔，先在屏幕中找到其波形顯示，使用 鍵或左右轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕移動(dòng)閘門套住此回波，按 鍵，或向右調(diào)節(jié)旋鈕到自動(dòng)增益欄單擊，把該回波的幅度調(diào)到80%左右。再按 鍵鎖定閘門內(nèi)的最大回波（測(cè)試點(diǎn)后面的數(shù)字固定不閃爍時(shí)，表示已鎖定回波）；最后按 鍵或右轉(zhuǎn)旋鈕到確認(rèn)欄單擊，完成該點(diǎn)的測(cè)試。此時(shí)顯示的測(cè)試點(diǎn)后的序號(hào)自動(dòng)向后順延，并閃爍，表示進(jìn)入下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的采樣。按照上面的步驟鎖定下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)（20mm、30mm、40mm……）。本儀器最少作2個(gè)點(diǎn)，最多作10個(gè)點(diǎn)，取完點(diǎn)后，連按2次 鍵確認(rèn)，屏幕上出現(xiàn)一條基準(zhǔn)線。此時(shí)，DAC制作完畢。
（7）此時(shí)得到的曲線是Φ1×6mm的基準(zhǔn)線，根據(jù)探傷要求的不同就必須根據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)輸入?yún)?shù)，從而得到符合探傷要求的評(píng)定線、定量線和判廢線。按 鍵或右轉(zhuǎn)旋鈕到參數(shù)欄單擊旋鈕進(jìn)入?yún)?shù)列表，調(diào)節(jié)旋鈕將光標(biāo)移動(dòng)到評(píng)定欄按單擊旋鈕進(jìn)入?yún)?shù)修改狀態(tài)，然后調(diào)節(jié)旋鈕將數(shù)值輸入后，單擊旋鈕或按 鍵完成參數(shù)修改。依照以上方法依次輸入定量、判廢、表面補(bǔ)償?shù)臉?biāo)準(zhǔn)數(shù)值。最后按參數(shù)鍵，或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕將光標(biāo)移動(dòng)到 退出欄單擊旋鈕返回探傷界面。
HS610e、HS611e直探頭調(diào)試方法：
用直探頭放在IA試塊平面上，厚度25mm的地方，按 ，屏幕下方出現(xiàn)：“請(qǐng)輸入材料聲速5940”，單擊旋鈕，又出現(xiàn)“請(qǐng)輸入起始距離50mm”，此時(shí)將“50”改為“25”單擊旋鈕，再提示“請(qǐng)輸入終止距離100mm”，此時(shí)將“200”改為“100” 單擊旋鈕，此時(shí)屏幕上出現(xiàn)雙閘門套在25mm，100mm的位置上，將25mm最大波高，調(diào)整到80％，按 鍵，儀器自動(dòng)校準(zhǔn)，數(shù)秒后，儀器上提示“校準(zhǔn)完畢”，此時(shí)已測(cè)試完畢。
探傷實(shí)例應(yīng)用（僅供參考）
在以下過程中我們將介紹用HS610e型及HS611e型數(shù)字式超聲波探傷儀對(duì)鍛件、鋼板及焊縫檢測(cè)的操作方法，本文中以全國(guó)無(wú)損檢測(cè)人員資格考試委會(huì)員提供的探傷方法及報(bào)表格式為依據(jù)，（檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)為JB/T 4730.1～4730.6－2005）
1．鍛件探傷應(yīng)用
1．1鍛件缺陷Φ值測(cè)量方法
操作方法一：
1）首先將探頭放在鍛件工件上并找出大平底的最高回波，按閘門移位對(duì)應(yīng)的 ，再按左、右方向鍵用閘門鎖定回波，再按 鍵，將波形調(diào)整到滿刻度80%高度，此時(shí)衰減器的讀數(shù)記作dB1，再根據(jù)公式： 算出當(dāng)前深度下大平底與Φ２平頂孔的dB差。其中：λ=材料聲速/頻率，X為鍛件厚度,D為平底孔直徑，這里以Φ2為準(zhǔn)，按增益鍵使增益欄反顯，按右上方向鍵使得增益提高剛才所算出來(lái)的dB數(shù)，例如計(jì)算出來(lái)的 ＝32dB，則提高32dB。記下當(dāng)前的衰減器讀數(shù)dB2
2）接下來(lái)移動(dòng)探頭在工件上尋找缺陷波，幷尋找出最大波峰，按閘門移位對(duì)應(yīng)的 鍵，再按 鍵移動(dòng)閘門鎖定傷波，按 鍵將缺陷波形調(diào)整到80%高度，用當(dāng)前衰減器讀數(shù)減去剛才所記下的dB2，記作 ,通過公式 其中 為鍛件厚度, 為缺陷實(shí)測(cè)深度， 為待測(cè)缺陷孔徑， 為Φ2，通過儀器讀出缺陷深度位置，代入公式進(jìn)行運(yùn)算，最后算出缺陷的Φ值。
記下此時(shí)的深度讀數(shù)記作H，即缺陷最大處的深度。
按閘門移位對(duì)應(yīng)的 鍵，再按 方向移動(dòng)閘門套住底波，按 鍵將底波增益到80%高度，記下此時(shí)的基準(zhǔn)dB讀數(shù)加上偏差dB數(shù)記作BG（無(wú)缺陷處底波）。用先前記下的BF（缺陷最大處底波）減去BG所算出的得數(shù)即為底波衰減量（BG/BF）。
操作方法二：
１）按 鍵或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕到調(diào)校欄單擊旋鈕，再按ф值計(jì)算對(duì)應(yīng)的 鍵，或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕到Φ值計(jì)算欄，單擊旋鈕，此時(shí)進(jìn)入Φ值計(jì)算狀態(tài)
2 ）用探頭在鍛件試塊上找出大平底的最高回波，按 鍵或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕到 自動(dòng)增益單擊旋鈕，將波形調(diào)整到80%，按下底波增益對(duì)應(yīng)的 鍵或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕到底波增益欄單擊旋鈕，此時(shí)儀器根據(jù)公式： （其中：λ=材料聲速/頻率，x為鍛件厚度,D為平頂孔直徑，本儀以器以Φ2為主） 自動(dòng)算出增益靈敏度ΔdB并自動(dòng)的進(jìn)行增益
3 ）此時(shí)尋找傷波，并尋找出最大波峰，按 鍵或左右轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕移動(dòng)閘門鎖定傷波，按 鍵或轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕到自動(dòng)增益單擊旋鈕，將波形調(diào)整到80%，再按計(jì)算對(duì)應(yīng)的鍵或者轉(zhuǎn)動(dòng)旋鈕到計(jì)算欄單擊旋鈕，屏幕下方將滾動(dòng)顯示出計(jì)算出來(lái)的Φ值。
記下此時(shí)的深度讀數(shù)記作H，即缺陷最大處的深度。
另注： 平底孔與Φ４孔相對(duì)當(dāng)量換算
將以上計(jì)算出的孔徑代入下式計(jì)算出缺陷與Φ４孔的相對(duì)當(dāng)量：
即缺陷大小相當(dāng)于Φ４＋
1．2測(cè)量座標(biāo)
此時(shí)用鋼尺量出探頭在鍛件上所在的位置，即橫座標(biāo)X和縱座標(biāo)Y，具體方法如下圖所示：
圓形鍛件測(cè)量方法 方形鍛件測(cè)量方法
如果是密集形缺陷還需用半波法測(cè)量出缺陷面積。
1．3填寫表格
將先前記錄的數(shù)據(jù)一一對(duì)應(yīng)的填入表格
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| | | | | | | 缺陷最大處相對(duì)Φ4平頂孔的當(dāng)量 | | |
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按照上述方法將鍛件上的缺陷逐一找出并測(cè)量出相應(yīng)數(shù)據(jù)，填入表格中。
2 鋼板探傷應(yīng)用
直探頭鋼板探傷中主要以檢測(cè)缺陷面積為主，因此要求操作人員對(duì)缺陷進(jìn)行判別和定量。
2.1 探測(cè)范圍的調(diào)整
探測(cè)范圍的調(diào)整一般根據(jù)板厚來(lái)確定。接觸法探傷板厚30mm以下時(shí)，應(yīng)能看到B10，探測(cè)范圍調(diào)至300mm左右。板厚在30～80mm，應(yīng)能看到B5，探測(cè)范圍為400mm左右。板厚大于80mm，可適當(dāng)減少底波的次數(shù)，但探測(cè)范圍仍保證在400mm左右。
2.2 靈敏度的調(diào)整
在本儀器中以平底孔試塊法為例講解儀器調(diào)節(jié)方法：當(dāng)厚板＞20mm時(shí)，使用下圖中平底孔試塊的Φ5平底孔第一次回波達(dá)50%作為探傷靈敏度。
將探頭放在平底孔試塊上，移動(dòng)探頭找出Φ5平底孔的最大回波，按增益鍵，使增益欄反顯，再按左右鍵調(diào)節(jié)增益數(shù)值，將第一次反射回波調(diào)節(jié)到滿刻度的50％高度，此時(shí)的增益讀數(shù)為探傷靈敏度。然后將探頭放置在待測(cè)鋼板上進(jìn)行掃查。
當(dāng)板厚≤20可直接在待測(cè)鋼板上找出第一次底波，并將其調(diào)整到50％高度,再按增益鍵，提高10dB作為探傷靈敏度。
2.3 缺陷的判別與測(cè)定
2．3．1缺陷的判別
在探傷過程中，觀測(cè)屏幕上的波形，根據(jù)缺陷波和底波來(lái)判別鋼板中的缺陷情況，確定以下幾種情況作為缺陷。
（1） 缺陷第一次反射波F1≥50％。
（2） 第一次底波B1＜100％，第一次缺陷波F1與第一次底波B1之比F1/B1≥50％。
（3）第一次底波B1＜50％。
2．3．2缺陷的測(cè)定
探傷中發(fā)現(xiàn)缺陷以后，要測(cè)定缺陷的位置、大小、并估判缺陷的性質(zhì)。
缺陷定量：鋼板中缺陷常采用測(cè)長(zhǎng)法測(cè)定其指示長(zhǎng)度和面積。JB/T4730-2005規(guī)定：
當(dāng)F1≥50％或F1/B1≥50％（B1＜100%＝時(shí)，使F1達(dá)25％或F1/B1達(dá)50％時(shí)探頭中心移動(dòng)距離為缺陷指針長(zhǎng)度，探頭中心軌跡即為缺陷邊界。
當(dāng)B1＜50％時(shí)，使B1達(dá)50％時(shí)探頭中心移動(dòng)距離為缺陷指示長(zhǎng)度，探頭中心軌跡即為缺陷邊界。
當(dāng)掃查過程中發(fā)現(xiàn)了符合上述情況的時(shí)候，拿起探頭，用記號(hào)筆在在鋼板上畫上記號(hào)作為一個(gè)邊界點(diǎn)，然后再依次類推，找出其它的邊界點(diǎn)（大約八個(gè)點(diǎn)就足以確定缺陷的面積了）。
缺陷位置的測(cè)定：根據(jù)發(fā)現(xiàn)缺陷的探頭位置來(lái)確定，幷在工件上作標(biāo)記，然后測(cè)量出缺陷距鋼板左邊的最小距離L1、距鋼板下邊的最小距離L2，缺陷的最大指示長(zhǎng)度L3幷算出缺陷面積。如下圖所示：
將所測(cè)數(shù)值依次填入表內(nèi)：
3 焊縫探傷應(yīng)用
在焊縫探傷中需要記錄以下數(shù)值
注：S1：缺陷起始點(diǎn)距試板左端其準(zhǔn)線的距離
S2：缺陷終點(diǎn)距試板左端基準(zhǔn)線的距離
S3：缺陷波幅最高時(shí)距試板左端基準(zhǔn)線距離
操作步驟：
按照前面所述的斜探頭的校準(zhǔn)方法以曲線制作完成后進(jìn)入焊縫探傷工作，依據(jù)JB4730-94標(biāo)準(zhǔn)按不同的工件厚度輸入曲線的標(biāo)準(zhǔn)，（本例以 15mm < T <46mm 為例，即判廢：+5、定量：-3、評(píng)定 -9、表面補(bǔ)償按 +3dB為準(zhǔn)。
1） 輸入標(biāo)準(zhǔn)后，將探頭放在待測(cè)工件上進(jìn)行掃查如圖所示箭頭表示掃查方向。
2） 當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷后觀察回波高度，如果回波高度超過定量線，此時(shí)仔細(xì)移動(dòng)探頭尋找最高回波，找到最高波后，按住探頭不動(dòng)，此時(shí)觀察屏幕上數(shù)據(jù)顯示區(qū)缺陷深度的讀數(shù) x.x 即H，以及波高所在區(qū)域，并用鋼尺量出探頭到鋼板左端邊的距離即S3，（從探頭中心位置測(cè)量，或從探頭左邊測(cè)量再加上探頭寬度的二分之一），再觀測(cè)屏幕上數(shù)據(jù)顯示區(qū)缺陷水平的讀數(shù) xx，用鋼尺從探頭前端量出缺陷所在位置，并用鋼尺量出缺陷位置與焊縫中心線的距離，如上圖，探頭前端到焊縫中心線的距離為30㎜,而儀器測(cè)量出的水平位置為27㎜,則距焊縫中心距離為3mm，缺陷偏向焊縫中心線B（－）側(cè)，則記錄為B3或－3（即在B欄中填寫3），此時(shí)缺陷最大波幅時(shí)的數(shù)據(jù)記錄完畢。
3） 然后開始測(cè)量缺陷長(zhǎng)度。按 鍵將缺陷最高波調(diào)整到滿刻度的80％，此時(shí)向左平行移動(dòng)探頭觀察屏幕上的回波，當(dāng)回波降低到40％的時(shí)候，（即最高波的一半）此時(shí)量出探頭到鋼板左端邊距離，記作S1，此時(shí)再向右平行移動(dòng)探頭，回到最高波位置，然后繼續(xù)向右平行移動(dòng)，直到回波降低到40%的時(shí)候，此時(shí)量出探頭到鋼板左端邊的距離，記作S2，然后用S2減去S1所得到的數(shù)值即為缺陷長(zhǎng)度（L）。
4） 將上面測(cè)量出的數(shù)據(jù)填入表格里相應(yīng)的欄目中。依照上述方法將缺陷逐一找出并測(cè)量。
作者: yuwen 時(shí)間: 2019-5-11 08:06
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