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標題: 直探頭頻率大小對鍛件缺陷當量的影響 [打印本頁]
          

          
作者: kgkevin    時間: 2013-3-8 21:30
          
標題: 直探頭頻率大小對鍛件缺陷當量的影響
           本帖最后由 kgkevin 于 2013-3-9 11:50 編輯 
          

          
不知道大家有沒有遇到過這種情況，鍛件中的一個缺陷，2.5MHZ的直探頭探測缺陷當量1mm不注意的話幾乎看不到缺陷幾乎被埋藏在雜波中了，改用2MHZ直探頭探測非常明顯的缺陷波，為2mm當量，1.25MHZ直探頭探測為4mm當量，這是怎么回事，究竟以哪個探頭來定量缺陷大小。請大家不吝賜教！
          

          

          
上圖片，大家看下，現在究竟如何定量和定性缺陷，望高人指點。另外，探頭在工件上左右移動時波形無明顯變化。
          
作者: kgkevin    時間: 2013-3-8 21:35
          
明天上缺陷波形圖
          
作者: 天才無憂    時間: 2013-3-8 22:48
          
鍛件需要用這么低頻的探頭嗎
          
作者: wjjxuey    時間: 2013-3-8 23:04
          
這個不一定的，要看鍛件的大小，晶粒組織
          
作者: 糟老頭子    時間: 2013-3-9 01:42
          
你都做avg/dgs曲線了嗎？
          
作者: luolang1314    時間: 2013-3-9 08:03
          
一般探頭的頻率決定了可探測到缺陷的最小尺寸。如你所用的2.5M探頭可檢測到的最小尺寸約為半波長1.18mm 當量大小的缺陷；2M約為1.5mm;1.25M約為4.72mm;所以你觀察到的情況，還是符合實際情況的。
          
所以判定缺陷大小需要用參考試塊進行比較。一般用2.5M探頭，fai2 當量的參考試塊進行定量就可以了。
          
作者: luolang1314    時間: 2013-3-9 08:14
          
在滿足信噪比或分辨力、靈敏度的情況下，以較高頻率定量要約為準確一些；遇到晶粒粗大，才考慮更換頻率較低的探頭檢測。
          
作者: NDT-LIU    時間: 2013-3-9 08:35
          
{:soso_e163:}
          
作者: kgkevin    時間: 2013-3-9 11:31
          
 本帖最后由 kgkevin 于 2013-3-9 11:39 編輯 
          

          
圖片改到主貼了，望大家不吝賜教。
          
作者: zyylrq    時間: 2013-3-9 14:38
          
{:soso_e163:}
          
作者: 明明w    時間: 2013-3-9 14:52
          
{:soso_e163:}
          
作者: manzi    時間: 2013-3-11 04:29
          
{:soso_e163:}
          
作者: nde7225030    時間: 2013-3-11 07:46
          
按道理，換探頭頻率不應該改變缺陷的深度。
          
作者: 丁國華    時間: 2013-3-13 10:04
          
{:soso_e163:}
          
作者: 夜盡天微明    時間: 2013-3-13 10:08
          
來學習了！
          
作者: 我的刀不快    時間: 2013-3-13 15:13
          
持續關注
          
作者: woshibaichi7pm    時間: 2013-3-13 18:52
          
{:soso_e179:}.........
          
作者: 別煩我，困    時間: 2013-3-13 20:55
          
{:soso_e160:}
          
作者: 心心    時間: 2013-3-13 23:11
          
{:soso_e100:}
          
作者: kgkevin    時間: 2013-3-14 08:19
          
{:soso__10169062262133571330_1:}
          
作者: 滄海    時間: 2013-3-14 16:47
          
{:soso_e163:}
          
作者: Endlesslove    時間: 2013-3-15 10:15
          
{:soso_e179:}
          
作者: 德德    時間: 2013-3-15 17:27
          
{:soso_e163:}
          
作者: qsccemxq    時間: 2013-3-18 08:17
          
{:soso_e100:}
          
作者: 誠緣1    時間: 2013-3-18 10:30
          
學習了。
          
作者: htckelina    時間: 2013-3-18 21:52
          
三個探頭不同品牌，更不是一個系列，所以結果差別這么大。這個牌子的儀器DGS到底如何，還請各位高人指點。
          
作者: workndt    時間: 2013-3-24 23:21
          

          luolang1314 發表于 2013-3-9 08:03 
          
一般探頭的頻率決定了可探測到缺陷的最小尺寸。如你所用的2.5M探頭可檢測到的最小尺寸約為半波長1.18mm 當 ...

          
1.25M是不是寫錯了啊，哥們，2.36?
          
作者: 微笑的天空    時間: 2013-3-29 22:18
          
{:soso_e163:}
          
作者: shjpeach    時間: 2013-3-31 07:25
          
期待更多精彩解讀。
          
作者: 夜盡天微明    時間: 2013-4-2 07:50
          
{:soso_e100:}
          
作者: wangjiabao    時間: 2013-4-2 08:47
          
{:soso_e100:}
          
作者: lfdafei    時間: 2013-4-7 11:24
          
那個波形就是缺陷啊
          
作者: lfdafei    時間: 2013-4-7 11:25
          
你看看那是缺陷嗎?缺陷還能變啊？你學過超聲嗎
          
作者: lfdafei    時間: 2013-4-11 08:19
          
是，您說的好，兄弟下次注意.{:soso_e181:}
          
作者: jianglicpa    時間: 2013-5-10 13:39
          
頻率對缺陷的定量不能有這樣大的影響，不然對缺陷定量還有意義嗎？看你用的是GE的探頭，完全可以用探頭自帶的AVG,只是需要減去內孔散射影響。這比試塊法又簡單又準確。
          
作者: 一彎馨月    時間: 2013-10-25 07:18
          
{:soso_e160:}
          
作者: 德德    時間: 2013-10-25 07:44
          
{:soso_e163:}{:soso_e163:}
          
作者: kinhaw    時間: 2013-10-27 21:15
          
頻率越高，衰減越大，計算缺陷當量時考慮衰減問題了嗎？
          

          
作者: yuwen    時間: 2014-1-2 23:42
          
{:soso_e163:}
          
作者: ﹏〆隨哘灬▓    時間: 2014-1-6 14:24
          
從理論公式上來看高頻探頭探出的缺陷應比低頻大，探頭頻率直接影響探傷的分辨率和波的穿透力，對與鍛件組織不均勻或晶粒粗大的情況穿透力較強的低頻探頭對于非組織引起的異常反射較為靈敏。但是一般情況下探頭頻率對當量的影響不應該會很大（除漏檢情況外，由于半波長原因高頻更靈敏）
          
我有3點疑問：1.換探頭的同時曲線重做沒有。 2.我看圖片的波形不太像缺陷波(對幻像波排除沒）3.圖片上探傷部位為鍛件側壁，側壁干涉會不會有影響.
          
作者: 假面    時間: 2014-1-6 16:17
          
{:soso_e163:}
          
作者: 阿東    時間: 2014-1-7 13:31
          
不錯,學習了.
          
作者: 祝你開心    時間: 2014-1-7 14:53
          
你看。你換了探頭之后，增益減小了6dB，但是所有的波都更高了這是什么情況？我猜可能是因為兩只探頭的差異比較大吧。
          
作者: xjinge    時間: 2014-1-8 14:39
          
同學，我想問你做曲線之后，再換探頭的時候儀器其他的參數都改了沒？
          
另外，我一直從事鍛鋼件超聲檢測，但我很少用曲線，雖然結果可能與儀器自動計算的有點誤差但還是受儀器參數影響較小而且不會出現你那樣的誤判。
          
其實你用2.5MHZ 的探頭2mm靈敏度下發現1mm的缺陷就有點不好判斷了，你再改為1.25MHZ 2mm的靈敏度時是很難發現那么小的缺陷的。
          
作者: 逆風的魚    時間: 2015-5-7 08:27
          
路過
          
作者: guoqi021    時間: 2015-6-8 21:49
          
無論是用曲線還是計算，都必須是一個牌子的探頭。像你這種有孔的 ，要考慮曲率影響，而且沒看到你儀器自帶的曲線全樣，有的機器，在3N都是平的（CTS-4020），而不是真實的。你不能按儀器給出的讀值來判當量。必須計算法。
          
但我也在實際工作中發現確實，在軸類鍛件，調質以后發現缺陷不同頻率做出的當量不同，考慮了曲率和衰減后還是不同，也不知道為什么？
          
作者: qxyll    時間: 2015-8-5 10:43
          
直徑是25mm的小棒料能用UT探傷嗎
          

          
作者: 好夢成真    時間: 2015-8-5 17:04
          

          ﹏〆隨哘灬▓ 發表于 2014-1-6 14:24
          
從理論公式上來看高頻探頭探出的缺陷應比低頻大，探頭頻率直接影響探傷的分辨率和波的穿透力，對與鍛件組織 ...

          
有理，有力，這是個有經驗的探傷工
          

          
作者: zhl469429063    時間: 2015-9-16 10:10
          
目測樓主那個波形根本就不是缺陷波，重復頻率調低就沒有了
          
作者: 尚東運2    時間: 2015-9-19 20:49
          
鍛件缺陷定當量 對于同一個缺陷來說用不同頻率探頭對缺陷定量不應該出現較大偏差（探頭其它參數不變只改變頻率），具體分析一下出現較大偏差的原因。
          
1. 頻率改變后探頭的近場區長度 跟 半擴散角 會發生改變  
          
 因此 由于干涉影響近場區內存在聲壓極大極小值 三倍近場區以內計算法是不能比較的，同樣由于半擴散角也改變如果缺陷所在位置不能被聲束完全覆蓋 那么也是不能比較的。
          
2.當缺陷頻率改變后 超聲波波長會發生改變 因為不同波長對同一個缺陷的透射能力會有差異 因此缺陷的性質也會影響缺陷波高低。
          
3.頻率改變后聲束直徑會發生改變 因此當掃查靠近工件側面缺陷的時候 不同寬度聲束的側壁干涉區域會不同 因此對聲束能量影響是無法得到修正的 故不宜放在一塊比較。
          
4.材料的晶粒大小對不同波長的超聲波影響也是不一樣的，就本工件來說可以暫且忽略。
          
5.以上討論均是在理想狀態下進行的 現在說一下探頭 探頭的標稱頻率不是單一的就一個固定頻率 它是由一個范圍內的不同頻率合成的 而且低頻的探頭很難做！因此你能保證你所用的探頭頻率偏差不大嗎？（國產低頻探頭實在不敢恭維）。
          
就以上幾點放到本工件上來看我想影響最大的應該是側壁干涉 跟所選對比低頻探頭的質量  
          
此工件要定量還是用對比試塊較為妥當 
          
以上為個人愚見 請各位前輩指正
          
作者: fendti2805    時間: 2015-9-21 15:33
          
我的理解到沒有那么復雜，不過我覺得鍛件檢測，多為粗晶材料檢測，你的探頭就應該選1MHZ或者1.25MHZ，避免波長過短，雜波過多。所以應該以1.25的探頭檢測
          
作者: gaohuad0713    時間: 2017-12-17 09:49
          
不應該啊，樓主是不是用2.5.P探頭校準完靈敏度后，直接換的2P和你1.5P？有沒有重新校準靈敏度？
          
作者: luzhihao    時間: 2018-11-21 15:57
          
沒有看明白你要表達什么意思
          
作者: 316112117    時間: 2019-1-23 11:04
          

          
持續關注
          
作者: zjaitxia11    時間: 2024-6-15 17:44
          

          ﹏〆隨哘灬▓ 發表于 2014-1-6 14:24
          
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高頻檢出是小
          
作者: renliangfeng    時間: 2025-5-30 09:02
          

          尚東運2 發表于 2015-9-19 20:49
          
鍛件缺陷定當量 對于同一個缺陷來說用不同頻率探頭對缺陷定量不應該出現較大偏差（探頭其它參數不變只改變 ...

          
我覺得應該還加空心圓柱體波的散射和聚焦
          

          
作者: renliangfeng    時間: 2025-5-30 09:05
          
我覺得你應該用相同的晶片尺寸不同的頻率來比較




          

          

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