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          遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)資訊網(wǎng)
          
標(biāo)題: TB/T2658.21 鋼軌串列式距離波幅曲線相關(guān)疑問(wèn)（附圖） [打印本頁(yè)]
          

          
作者: 小混混    時(shí)間: 2013-1-24 10:19
          
標(biāo)題: TB/T2658.21 鋼軌串列式距離波幅曲線相關(guān)疑問(wèn)（附圖）
          在鐵道行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)TB/T 2658.21中，附錄C中提到距離波幅曲線的制作，采用雙探頭法掃查軌腰及其延伸部位缺陷是以缺陷深度為橫坐標(biāo)，以反射波幅度為縱坐標(biāo)。掃查方法如下圖所示。通過(guò)探頭的前后移動(dòng)找到各個(gè)缺陷對(duì)應(yīng)的最大回波處。這五處缺陷的埋深雖不同，但聲程是一樣的，而且都是一樣的反射體，為何更深的缺陷回波幅值低，它們的回波幅值和哪些因素有關(guān)呢？求前輩們解答。[attach]4461[/attach][attach]4462[/attach]
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-1-24 22:52
          
聲程是一樣的。也不明白，坐等高人。
          
我再問(wèn)下：為什么要用斜探頭？為什么要用雙探頭？為什么要用平底孔作參考反射體？
          
作者: 王緒軍    時(shí)間: 2013-1-25 10:59
          
這個(gè)問(wèn)題要解答得清清楚楚最好請(qǐng)教南車戚墅堰機(jī)車車輛工藝研究所有限公司 萬(wàn)升云博士
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-1-25 16:51
          
如果反射體都處于遠(yuǎn)場(chǎng)中，到達(dá)反射體的聲壓與發(fā)射探頭到反射體的聲程成反比，而通過(guò)反射體到接受探頭的聲壓與剩余聲程成反比，當(dāng)總聲程一定時(shí)，兩者的差越小其乘積越大，故最深處回波最?。?hr noshade size="2" width="100%" color="#808080">
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-1-26 11:31
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2013-1-25 16:51 
          
如果反射體都處于遠(yuǎn)場(chǎng)中，到達(dá)反射體的聲壓與發(fā)射探頭到反射體的聲程成反比，而通過(guò)反射體到接受探頭的聲壓 ...

          
原來(lái)是這樣啊 謝謝了
          

          
作者: manzi    時(shí)間: 2013-1-26 21:12
          
{:soso_e163:}
          
作者: 滄海    時(shí)間: 2013-2-11 22:17
          
{:soso_e179:}
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-3-14 14:33
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2013-1-25 16:51 
          
如果反射體都處于遠(yuǎn)場(chǎng)中，到達(dá)反射體的聲壓與發(fā)射探頭到反射體的聲程成反比，而通過(guò)反射體到接受探頭的聲壓 ...

          
丁工：您好！在這個(gè)應(yīng)用中，聲稱一樣，那么每個(gè)平底孔的回波在橫坐標(biāo)都是一樣的，那么這個(gè)dac曲線是如何制作的呢？
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-3-14 20:23
          
根據(jù)平底孔的深度進(jìn)行畫(huà)圖
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-3-14 20:27
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-14 20:23 
          
根據(jù)平底孔的深度進(jìn)行畫(huà)圖

          
但是不管是哪個(gè)深度，聲程也就是橫坐標(biāo)的點(diǎn)位置都一樣的?。?br />
還有這種方法能夠用pa代替嗎？如能該怎么做？謝謝指點(diǎn)
          

          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-3-14 20:54
          
哈哈，具體深度定位是由探頭掃查位置計(jì)算而得的，不是屏幕上讀數(shù)呀！PA也可以解決一些問(wèn)題！每種方法都有局限性！
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-3-14 21:08
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-14 20:54 
          
哈哈，具體深度定位是由探頭掃查位置計(jì)算而得的，不是屏幕上讀數(shù)呀！PA也可以解決一些問(wèn)題！每種方法都有局 ...

          
您的意思是看兩個(gè)探頭的距離來(lái)推出深度？探頭相隔越近則缺陷越深？用相控陣如何取代？能簡(jiǎn)單說(shuō)說(shuō)嘛？
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-3-14 22:01
          
是的！相控陣測(cè)量其原理仍舊是脈沖反射，與TOFD有本質(zhì)區(qū)別，特別針對(duì)與工件掃查面垂直的光滑缺陷，檢出能力不及TOFD！
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-3-15 12:49
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-14 22:01 
          
是的！相控陣測(cè)量其原理仍舊是脈沖反射，與TOFD有本質(zhì)區(qū)別，特別針對(duì)與工件掃查面垂直的光滑缺陷，檢出能力 ...

          
采用相控陣技術(shù)的話，也是需要兩個(gè)探頭這樣排列嘛？對(duì)于這個(gè)鋼軌的應(yīng)用，您認(rèn)為T(mén)OFD會(huì)更好？
          

          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-3-15 19:44
          
當(dāng)然不是兩個(gè)探頭了！單個(gè)多晶片電子聚焦探頭！
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-3-15 20:11
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-15 19:44 
          
當(dāng)然不是兩個(gè)探頭了！單個(gè)多晶片電子聚焦探頭！

          
那對(duì)于垂直的缺陷不是也不好檢測(cè)嗎？
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-3-15 21:42
          
正是！{:soso_e115:}
          
作者: 糟老頭子    時(shí)間: 2013-3-16 00:58
          

          丁偉臣 發(fā)表于 2013-3-15 21:42 
          
正是！

          
樓主提到的這個(gè)串聯(lián)式的掃查方法好像是針對(duì)垂直于檢測(cè)面的缺陷（考慮的是鋼軌所以這樣），而我們只有脈沖反射法的相控陣的話卻不能做到這點(diǎn)了？是否采用TOFD更好呢？但焊縫長(zhǎng)度只有不到20mm的
          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2013-3-16 22:48
          
如果缺陷是純粹未熔合可能相控陣不能發(fā)現(xiàn)，但TOFD可容易發(fā)現(xiàn)。但一般坡口未熔合可與渣伴生，也可發(fā)現(xiàn)一些此類缺陷。




          

          

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