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標題: 相控陣，大家可以了解下 [打印本頁]
          

          
作者: ★JAbluesky    時間: 2013-1-23 14:45
          
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作者: 糟老頭子    時間: 2013-1-23 20:03
          
樓主，說好的附件呢？
          
作者: xx翔    時間: 2013-1-24 08:40
          
........
          
作者: 吳才棟    時間: 2013-1-24 12:28
          

          
樓主，說好的附件呢？
          
作者: baidileina    時間: 2013-1-25 17:15
          
還要金幣啊 
          
作者: 尼莫    時間: 2014-9-10 17:10
          
學習了~
          
作者: N-D-E    時間: 2014-12-31 17:19
          
Linear scan: is used to describe the scan format in which the active beam aperture is electronically moved across the length of a linear arrar probe,either at normal incidence or a fixed angle. This format is alternately known as an "E-scan" in certain ASME and IIW document.
          
線性掃查：用于描述激活聲束孔徑，在聲波垂直入射或以固定角度斜入射的情況下，以電子方式沿線性陣列探頭的長度方向移動的掃查方式。這個掃查方式在某些ASME和IIW的文獻中被稱為“E-掃查”。
          
作者: 刺客00    時間: 2016-12-12 21:37
          
這不是騙子嗎
          
作者: 浩瀚    時間: 2016-12-23 11:31
          
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