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標題: 用大平底對鍛件單個缺陷定當?shù)牡撞ɑ鶞庶c選取 [打印本頁]
          

          
作者: 無事可作    時間: 2012-11-22 16:31
          
標題: 用大平底對鍛件單個缺陷定當?shù)牡撞ɑ鶞庶c選取
          鍛件檢測中，當缺陷聲程大于探頭3倍近場時，可利用底波調(diào)節(jié)靈敏度對缺陷進行定量，但由于鍛件不同部位的材質(zhì)衰減差異會造成底波高度不一，因此請教：當對一個單個缺陷進行定量時，調(diào)節(jié)靈敏度的底波選取點是應該在最接近缺陷的工件完好處還是在整個鍛件的底波回波最高處呢？
          
作者: 歲月流光    時間: 2012-11-22 17:00
          
很好的問題，我也想了解一下，幫你頂一下。{:soso_e179:}
          
作者: 糟老頭子    時間: 2012-11-23 00:51
          
不同部位的衰減所導致的波高的差別應該不會很大吧？是否選擇的探頭頻率太高了？
          
作者: 丁偉臣    時間: 2012-11-23 12:33
          
調(diào)節(jié)靈敏度的底波選取點應該在最接近缺陷的工件完好處!
          
作者: 無事可作    時間: 2012-11-23 18:59
          
非常感謝老師的指導，
          
作者: Endlesslove    時間: 2012-11-24 08:32
          
{:soso_e163:}
          
作者: wjjxuey    時間: 2012-11-26 12:43
          
 本帖最后由 wjjxuey 于 2012-11-26 13:20 編輯 
          

          
不同的標準有不同的規(guī)定吧。。。
          
JB系列的標準是在無缺陷的完好區(qū)域測試，但未具體指定是距缺陷最近處還是其他的完好區(qū)域；
          
GB/T6402-2008--同樣是無缺陷處的可以代表完好鍛件材質(zhì)處的底波以基準，同樣也沒明確操作方法，位置要求.
          

          
國外的大致翻了下，
          

          
---ASTM，EN提到了DGS法，類似于底波法，這個方法需有探頭廠提供的DGS曲線，但是對于在何處調(diào)底波取得參考當量也沒有明確；
          
---JIS Z2344提了底波法，但未明確具體的操作方法。
          

          
歡迎大家補充！！！
          

          
個人同意丁工的說法。因為這樣可以比較準確反映缺陷的當量。
          

          
JB/T4730.3-2005雖然提了傳輸衰減的測量方法，沒有規(guī)定同一鍛件在同一檢測面上衰減系數(shù)的允許波動范圍，也沒有對鍛件以底波法調(diào)節(jié)檢測靈敏度時的具體方法，部位要求作出說明。如果一個鍛件比較大，晶粒組織并不均勻，且缺陷正好處于晶粒組織相對較大處，如果以完好細組織處的底波調(diào)節(jié)基準靈敏度，則實際的缺陷當量有可能被低估。建議標準對于這一方法進行明確的說明。
          
作者: jianglicpa    時間: 2012-12-3 14:45
          
只要不超過2dB就不用考慮
          
作者: manzi    時間: 2012-12-20 12:23
          
學習了。。。謝謝
          
作者: mqiang1984    時間: 2012-12-20 17:43
          
{:soso_e179:}
          
作者: 空凝0248    時間: 2012-12-20 19:37
          
{:soso_e183:}
          
作者: ?_拒絕再玩    時間: 2013-7-7 21:27
          
{:soso_e163:}
          
作者: Tomato    時間: 2013-8-30 17:34
          
學習了。。。。。
          
作者: lywen0417    時間: 2013-9-5 09:51
          
檢測缺陷的方法有缺陷當量，還有底波降低量，這個鍛件這么不均勻，材料的金相組織合格嗎？




          

          

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