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標題: 標準太深奧，一個困擾我的疑惑 [打印本頁]
          

          
作者: 乄Cappuccino    時間: 2012-8-23 11:39
          
標題: 標準太深奧，一個困擾我的疑惑
          JB/T5000.15-2007術語和定義中規定：
          
單個缺陷：間距大于50mm，當量直徑不小于起始記錄當量的缺陷。
          
密集區缺陷：在熒光屏掃描線相當于50mm聲程范圍內同時有五個或五個以上缺陷反射信號；或在50mm*50mm檢測面上同一深度內有五個或五個以上缺陷反射信號。
          
 
          

          
1.那么以II級為例子，假如有3個缺陷，深度在110~130mm范圍內，當量在2~3mm之間，屬于需要記錄的缺陷，但間距小于50mm，那這3個缺陷不滿足單個缺陷也不滿足密集區缺陷定義。。屬于何種缺陷？如果說是多個缺陷，又如何質量分級？
          
2.再假設，有兩對缺陷，每對為3個（每對50mm*50mm檢測面），深度在110~130mm范圍內，當量在2~3mm之間。兩對缺陷間距如圖，又作何判定？  
          

          
作者: 德德    時間: 2012-11-24 13:54
          
這個問題提的好。評為2級的。
          
作者: 丁偉臣    時間: 2012-11-25 15:49
          
{:soso_e100:}
          
作者: xumingming    時間: 2012-11-28 08:28
          
{:soso_e163:}
          
作者: wjjxuey    時間: 2012-11-28 08:47
          
原來記得蘇州UT考試培訓時，還有另外一類缺陷：分散性缺陷，就是對樓主所說這一類缺陷；但在4730中也沒有定義，好象是姚志忠老師提出來的
          
作者: yiweiking2011    時間: 2013-2-28 17:50
          
是不是按單個， 然后把缺陷換算成面積但檢測面的百分比比來評定？
          
作者: 翔云    時間: 2013-3-3 09:26
          
{:soso_e179:}




          

          

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