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標(biāo)題: 數(shù)字探測器射線檢測的幾個問題 [打印本頁]
          

          
作者: 強天鵬    時間: 2012-6-20 11:23
          
標(biāo)題: 數(shù)字探測器射線檢測的幾個問題
          在制訂數(shù)字探測器射線檢測（DR）標(biāo)準(zhǔn)的會上，提出以下問題：
          
1、靜態(tài)成像和動態(tài)成像的差異有多大？承壓設(shè)備焊縫的檢測能采用動態(tài)檢測取代膠片照相嗎？
          2、由于探測器像素尺寸大，且探測器不能貼緊工件，另外探測器又不能彎曲，因此DR檢測的不清晰度很大！國際上提出用對比靈敏度補償不清晰度的理念，為該技術(shù)應(yīng)用掃除了一大障礙。但是標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于靜態(tài)檢測的焦距、一次透照長度如何規(guī)定？允許的不清晰度的界限應(yīng)該確定為多少？才能既保證檢測可靠，又合理可行。
          3、標(biāo)準(zhǔn)可靠性需要以下支撐：隨著不清晰度的增大，小裂紋檢出率到底如何變化？
          以上問題是否有理論研究或試驗結(jié)果能回答？

          

          


          


          

          
作者: 梁金昆    時間: 2012-6-21 17:43
          
 本帖最后由 梁金昆 于 2012-6-21 17:46 編輯 
          

          
數(shù)字射線檢測取代膠片射線檢測的等價性(美國人稱為等效性)問題，要有大量的試驗做支撐。我認(rèn)為在當(dāng)前情況下，既使靜態(tài)DR，在空間分辨率方面，也達(dá)不到膠片檢測的水平，更不能提倡動態(tài)檢測，至少在目前情況下，還沒有真正意義上的數(shù)字實時成像質(zhì)量，可以與膠片檢測相比。至于對裂紋的檢出，希望您用你們制作的裂紋試塊做些對比試驗，我想結(jié)果是很有價值的。對DR，我是外行，如說錯了，請原諒。
          
作者: 梁金昆    時間: 2012-6-21 17:55
          
 本帖最后由 梁金昆 于 2012-6-21 18:00 編輯 
          

          
調(diào)制度---空間頻率曲線，即m--f曲線，表明了損失對比度換取(補償)分辨率(不清晰度)的方法，是可行的。請原諒我的一知半解！
          
作者: 強天鵬    時間: 2012-6-23 13:36
          
一些銷售商用一些典型缺陷的數(shù)字圖像做宣傳，意圖給人一種數(shù)字射線對裂紋、未熔合…都能檢出的印象。但冷靜的內(nèi)行應(yīng)該知道這些圖像實際上不能說明問題——因為對大尺寸缺陷，即使很差的探測器也能把它照出來。我們需要的是：不同數(shù)字射線系統(tǒng)、不同工藝條件下對定量缺陷（尤其小尺寸裂紋）的檢出率！
          
作者: 丁偉臣    時間: 2012-6-23 21:33
          
標(biāo)準(zhǔn)僅為指導(dǎo)意義！
          
應(yīng)強調(diào)工藝的適用性，即檢測工藝應(yīng)根據(jù)應(yīng)用情況驗證達(dá)到預(yù)期的檢測效果！不同的檢測對象有不同的檢測要求，不可能標(biāo)準(zhǔn)解決所有的問題，特殊是特殊的檢測方法！
          
作者: Endlesslove    時間: 2012-6-25 08:52
          
{:soso_e179:}
          
作者: ZGP    時間: 2012-6-25 10:55
          
{:soso_e181:}
          
作者: 107659109    時間: 2013-2-1 11:30
          
{:soso_e179:}
          
作者: 楊會敏    時間: 2013-4-5 09:13
          
數(shù)字圖象完全取代膠片,似乎現(xiàn)階段還不可能
          
作者: yangyunsanlp    時間: 2014-1-5 21:30
          
這個標(biāo)準(zhǔn)今年會頒布嗎？
          
作者: wind_.yan    時間: 2014-7-10 15:09
          
檢測像素對靈敏度的影響
          
目前DR遇見的問題是，如何確定射線檢測技術(shù)，滿足技術(shù)條件或驗收標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的檢驗要求。
          
問題的基本解答是：對于己知要求 檢驗的缺陷，設(shè)計出檢測圖像必須滿足的指標(biāo)，進(jìn)而選擇應(yīng)采用的檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)的技術(shù)級別.
          
對于數(shù)字射線，技術(shù)指標(biāo)必須給出檢測圖像的指標(biāo)包括絲型像質(zhì)計數(shù)值，還應(yīng)給出保證具有滿足要求的雙絲像質(zhì)計測定值，即不清晰度值。
          
運用和射線膠片法等價對比的方法，可以具體分析目前射線照相技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的空間分辨率控制，可以直接將數(shù)字射線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)級別與膠片射線照相檢測技術(shù)級別相比較，判定它們的等價。
          
以X射線照相檢測技術(shù)為例，表給出了國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3323-2005與ISO/WD17636-2：2009標(biāo)準(zhǔn)，EN13068-3 2001標(biāo)準(zhǔn)部分透照厚度關(guān)于空間分辨率的要求。
          
不同標(biāo)準(zhǔn)和射線檢測技術(shù)規(guī)定的最低空間分辨率（鋼）
          
穿透厚度        最大電壓        射線照相檢驗技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)        數(shù)字射線檢測技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
          
mm        KV        GB/T3323A級        GB/T3323B級        ISO/WD17626-2        EN13068-3
          
                U/m        雙絲
          
值D        U/m        雙絲
          
值D        A級要求        B級要求        SA
          
級        SB級
          
                                                單絲W        雙絲D        單絲W        雙絲D                
          
1.0mm        105        0.1360        D12        0.0762        D13+        W18        D13        W19        D13+        -        D13
          
1.5mm        105        0.1547        D11        0.0839        D13+        W17        D12        W19        D13+        D11        D13
          
2mm        110        0.1698        D11        0.0911        D13        W16        D11        W18        D13        D11        D12
          
3.5mm        125        0.2042        D10        0.1079        D13        W16        D10        W17        D13        D10        D11
          
4mm        130        0.2134        D10        0.1126        D13-D12        W15        D10        W16-17        D13        D9        D11
          
5mm        140        0.2298        D10-D9        0.1209        D12        W14-15        D10        W16        D12        D9        D10
          
8mm        155        0.2684        D9        0.1399        D12-D11        W13        D9        W15        D12        D7        D9
          
10mm        180        0.2893        D9-D8        0.1516        D11        W13        D9        W14        D11        D7        D9
          
從以上表可以看出，關(guān)于空間分辨率（雙絲像質(zhì)計測定的不清晰度值）的規(guī)定，ISO/WD17626-2 2009標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，均達(dá)到了膠片射線照相檢測技術(shù)相應(yīng)級別的最低限規(guī)定，個別厚度還超過了最低限制要求，而EN13608-3 2001標(biāo)準(zhǔn)，無論A級還是B級均存在未達(dá)到膠片射線照相檢驗技術(shù)相應(yīng)級別最低限制規(guī)定的情況，由于線型像質(zhì)計靈敏度，不同標(biāo)準(zhǔn)作出的規(guī)定幾乎完全相同，因此可認(rèn)為ISO/WD17626-2 2009標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的技術(shù)級別，與膠片射線檢測技術(shù)規(guī)定的技術(shù)級別，具有同等缺陷檢驗?zāi)芰Α?br />
雙絲像質(zhì)計的絲徑和不清晰度 (單位：mm)
          
單元號        1        2        3        4        5        6        7        8        9        10        11        12        13
          
材料        鎢        鎢        鎢        鉑        鉑        鉑        鉑        鉑        鉑        鉑        鉑        鉑        鉑
          
絲徑和間距        0.80        0.63        0.50        0.40        0.32        0.25        0.20        0.16        0.13        0.10        0.08        0.063        0.050
          
對應(yīng)不清晰度        1.60        1.26        1.00        0.80        0.64        0.50        0.40        0.32        0.26        0.20        0.16        0.13        0.10
          
從不清晰度值可按下面關(guān)系給出空間分辨率（單位為線對/毫米），記作LP/mm:  R=1/2d  即,測定的線對值R與測定的不清晰值U單位mm的關(guān)系：R=1/U
          
從以上圖表和公式中可以查出，若透照小于4MM的鋼焊縫，則需要滿足雙絲相值計靈敏度D13，相質(zhì)計絲徑和間距為0.050mm， 
          
   如果輻射探測器的像素尺寸為P，則P將構(gòu)成數(shù)字化的采樣間隔，在理想的情況下，得到的數(shù)字圖像的最高空間分辨率R為: R=1/2P，滿足D13相質(zhì)計要求，則對應(yīng)成像板像素也必須小于0.050mm.
          
   若探測器的像素為200微米，按照公式R=1/2P,則通過計算，最高空間分辨率為R=2.5LP/mm, 則根據(jù)對應(yīng)的不清晰度R=1/U公式,計算為U=0.40，則最高滿足的雙線像質(zhì)計單元號最高為D7，.
          
  若探測器的像像素為127微米，按照公式R=1/2P,通過計算，最高空間分辨率約為3.94LP/mm, 則根據(jù)對應(yīng)的不清晰度R=1/U公式,計算為U=0.2538，，查表可以看出，滿足的雙絲像質(zhì)計單元號最高為D9-。
          
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調(diào)制傳遞函數(shù)最低要求近似曲線（各種像素探測器與膠片等效對比）
          

          

          
圖形無法顯示？
          

          

          

          

          

          

          

          

          

          

          

          

          

          
計算的射線檢測技術(shù)調(diào)制傳遞函數(shù)
          

          
RT-A—A 級膠片射線照像技術(shù)對鋼的最低傳遞函數(shù)
          
RT-B—B 級膠片射線照像技術(shù)對鋼的最低傳遞函數(shù)
          
D200 –像素為200微米的分立輻射探測器可獲得的調(diào)制傳遞函數(shù)值（M=1） 
          
D143 –像素為143微米的分立輻射探測器可獲得的調(diào)制傳遞函數(shù)值（M=1） 
          
D127 –像素為127微米的分立輻射探測器可獲得的調(diào)制傳遞函數(shù)值（M=1） 
          
D50 –像素為50微米的分立輻射探測器可獲得的調(diào)制傳遞函數(shù)值（M=1） 
          
你上內(nèi)容并非原創(chuàng)
          
作者: wind_.yan    時間: 2014-7-10 15:11
          
以上計算空間分辨率的辦法是錯誤的，空間分變率和像素尺寸和射線源焦點有關(guān)，按一定公式來做，上面只是簡單推理，請原諒無知。
          
作者: 尼莫    時間: 2014-8-25 08:24
          

          
處處皆是新技術(shù)
          
作者: 尖尖角    時間: 2015-5-15 16:30
          
對于DR技術(shù)國內(nèi)存在爭議，那么CR技術(shù)應(yīng)該不多，對于ISO17636-2標(biāo)準(zhǔn)，不僅可以同時統(tǒng)一同時采用CR和DR，而且射線源還統(tǒng)一采用gamma源，關(guān)鍵是空間分辨率的絲如何分辨了。對于雙絲像質(zhì)劑，那種情況就是可分辨呢
          
作者: 尖尖角    時間: 2015-5-15 16:31
          
對于DR技術(shù)國內(nèi)存在爭議，那么CR技術(shù)應(yīng)該不多，對于ISO17636-2標(biāo)準(zhǔn)，不僅可以同時統(tǒng)一同時采用CR和DR，而且射線源還統(tǒng)一采用gamma源，關(guān)鍵是空間分辨率的絲如何分辨了。對于雙絲像質(zhì)劑，那種情況就是可分辨呢
          
作者: 清風(fēng)    時間: 2015-6-2 21:55
          
靜態(tài)成像有問題，動態(tài)成像更不可能。DR數(shù)字化成像標(biāo)準(zhǔn)目前還有許多問題需要解決，即使是ISO17636：2-2013也有許多問題，尤其是在一次透照長度的規(guī)定上更是模糊，簡單的套用膠片法的計算方法或圖表法是不可取的，由于探測器是平面的且不能貼緊工件使得一次透照長度的計算更為復(fù)雜，還有其他更多的問題不一一列舉，
          
作者: jiancexbk    時間: 2015-8-1 14:24
          
數(shù)字成像射線檢測能用于現(xiàn)場安裝的檢測嗎
          
作者: zjr    時間: 2017-7-29 17:59
          
從不可能，現(xiàn)在變?yōu)榱丝赡堋?




          

          

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