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          遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)資訊網(wǎng)
          
標(biāo)題: 關(guān)于鍛件外圓斜探頭檢測(cè) [打印本頁(yè)]
          

          
作者: 228210262    時(shí)間: 2012-5-16 08:31
          
標(biāo)題: 關(guān)于鍛件外圓斜探頭檢測(cè)
          本人在鍛件檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)：外圓用(2.5M，4M)斜探頭檢測(cè)時(shí)光潔度低的情況下R≤12.5近表面的雜波比較多，感覺(jué)不好探，請(qǐng)問(wèn)外圓光潔度多少適合檢測(cè)
          

          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-5-16 11:29
          
與頻率、晶片尺寸、耦合劑類(lèi)型和耦合壓力有關(guān)！以上情形采用低頻探頭進(jìn)行檢測(cè)。
          
作者: luolang1314    時(shí)間: 2012-5-16 15:49
          
 標(biāo)準(zhǔn)上超聲檢測(cè)一般要求表面光潔度Ra不低于6.3 微米。
          
作者: luolang1314    時(shí)間: 2012-5-16 15:51
          
可以考慮軟膜、低頻探頭進(jìn)行檢測(cè)。
          

          
作者: 星火    時(shí)間: 2012-5-21 23:01
          
我感覺(jué)和光潔度關(guān)系不是太大吧，主要是曲率、耦合效果等因素影像的。
          
作者: 賀樹(shù)春    時(shí)間: 2012-5-30 15:02
          
1：主要是曲率，你可以使用小晶片探頭檢測(cè)。
          
2:查鍛件正火沒(méi)有。
          





          

          

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