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標(biāo)題: 題庫(kù)射線3.11問(wèn)答題疑問(wèn) [打印本頁(yè)]
          

          
作者: wbh    時(shí)間: 2012-3-14 11:36
          
標(biāo)題: 題庫(kù)射線3.11問(wèn)答題疑問(wèn)
          3.11試述Ug和Ui關(guān)系以及對(duì)照相質(zhì)量的影響。
          3.11答：可簡(jiǎn)要?dú)w納為以下幾點(diǎn)：
          （1）射線照相中，通常主要考慮的是幾何不清晰度Ug和固有不清晰度Ui，兩者共同作用形成總的不清晰度U，比較廣泛應(yīng)用的表達(dá)U、Ug、Ui的關(guān)系式是：
                                        
          （2）由于U是Ui和Ug的綜合結(jié)果，提高清晰度效果顯著的方法是設(shè)法減小Ug和Ui中較大的一個(gè)，而不是較小的一個(gè)。例如，當(dāng)Ui值遠(yuǎn)小于Ug值時(shí)，再進(jìn)一步減小Ui值，以期望減小U，其效果是不顯著的。
          （3）在X射線照相中，Ui值很小，影響照相清晰度的決定因素是Ug值。
          （4）在Co60，Cs137及Ir192γ射線照相中，Ui值較大，對(duì)照相清晰度有顯著影響，為提高清晰度，宜盡量減小Ug，使之不超過(guò)Ui值。考慮提高對(duì)細(xì)小裂紋的檢出率宜選擇Ug=Ui的條件，必要時(shí)可取Ug=Ui/2的透照幾何條件。
          

          

          
原題如上，如紅色文字，既然γ射線的Ui值大，那是不是應(yīng)該減小Ui值來(lái)提高綜合清晰度？？
          

          
作者: 強(qiáng)天鵬    時(shí)間: 2012-3-14 13:12
          
因?yàn)樵诜派湓椿蛏渚€能量確定之后，固有不清晰度是無(wú)法改變的，而幾何不清晰度是可以通過(guò)工藝參數(shù)調(diào)整改變的。所以書上的話：“射線照相不清晰度由Ui和Ug共同決定，……，在Co60，Cs137及Ir192γ射線照相中，Ui值較大，對(duì)照相清晰度有顯著影響，為提高清晰度，宜盡量減小Ug，使之不超過(guò)Ui值。” 沒有錯(cuò)。
          
作者: liuhonghui    時(shí)間: 2012-3-14 15:45
          
 本帖最后由 liuhonghui 于 2012-3-14 16:51 編輯 
          

          
1、R.Halmshaw博士將Fopt選擇分為三級(jí)：
          
    Ⅰ  Ug= Ui/2  Fmin= T（1+2df/Ui）
          
    Ⅱ  Ug= Ui    Fmin= T（1+df/Ui）
          
    Ⅲ  Ug= 2Ui   Fmin= T（1+df/2Ui）
          
其中：d——射線源焦點(diǎn)尺寸
          
          f——射線源至膠片的距離
          
          T——透照工件的壁厚
          
        Ui——固有不清晰度
          
      并指出，選擇優(yōu)化焦距Fopt的前提是應(yīng)對(duì)透照各種厚度所允許的射線能量上限值作出一定限值，否則就毫無(wú)意義。另外需指出的是，由于三者關(guān)系U2=Ui2+Ug2，當(dāng)Ug減小到 Ui/2以下時(shí)，通過(guò)減小Ug來(lái)減小總的不清晰度也已經(jīng)毫無(wú)意義。
          

          
源種類        Ir192        Co60        2MeV        8MeV
          
Ui(mm)        0.17        0.35        0.32        0.60
          

          

          
2、ASME控制焦距的辦法，其一，Ug限值；其二，通過(guò)黑度均勻限值。
          
    滿足Ug限值不一定滿足黑度均勻限值，也可能造成一次透照長(zhǎng)度很短，滿足上述兩點(diǎn)也不一定滿足像質(zhì)靈敏度要求（最終目的），為滿足像質(zhì)靈敏度，在其他固定的情況下，通過(guò)減小Ug限值來(lái)減小總U值，來(lái)提高靈敏度，所以焦距越大越好，焦距大了，透照?qǐng)瞿芰糠植季鶆颍淮瓮刚臻L(zhǎng)度肯定也大。
          

          
3、EN 與JB4730規(guī)定一樣，焦距是最低要求。
          

          
4、所以ASME只要滿足靈敏度，Ug限值，黑度均勻限值三點(diǎn)，不管多大的射線源能量都可選用。EN 與JB4730還規(guī)定了射線能量限值，不知是否多余？但可以肯定的是，規(guī)定射線能量限值也是為滿足靈敏度服務(wù)的。
          

          
作者: 丁偉臣    時(shí)間: 2012-3-14 20:15
          
EN 與JB4730還規(guī)定了射線能量限值，不知是否多余？
          
大家探討探討
          
作者: 橙子    時(shí)間: 2012-3-16 20:59
          
 本帖最后由 橙子 于 2012-3-16 21:00 編輯 
          

          
{:soso_e132:}
          

          
作者: 飛馬踏燕    時(shí)間: 2013-3-16 09:05
          
焦距遠(yuǎn)了，透照?qǐng)瞿芰糠植季鶆颍淮瓮刚臻L(zhǎng)度肯定也大，但是要選擇的透照能量就要人為相應(yīng)變大。
          
曝光量也要變長(zhǎng)。
          
作者: ///////////////    時(shí)間: 2014-6-19 21:14
          
不錯(cuò)，很受用
          
作者: 楓林晚    時(shí)間: 2014-6-20 08:28
          
能量的提高對(duì)射線檢測(cè)靈敏度的三個(gè)要素都有影響：1對(duì)比度，能量提高，射線的質(zhì)變硬，μ值下降，主因?qū)Ρ榷冉档汀?不清晰度，能量提高會(huì)使固有不清晰度變大，能量越高影響越明顯。3能量的提高會(huì)使底片的顆粒度增大。隨著能量提高三個(gè)因素都趨向降低底片成像質(zhì)量和靈敏度的方向發(fā)展，為了保證射線檢測(cè)對(duì)小缺陷有足夠的檢出能力即檢測(cè)靈敏度，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)能量進(jìn)行限值是非常有必要的。




          

          

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