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          標題: 關于JB/T 4730.3-2005中有關缺陷測高方法的疑問 [打印本頁]

          作者: 李濟科    時間: 2012-2-15 16:32
          標題: 關于JB/T 4730.3-2005中有關缺陷測高方法的疑問
          本帖最后由 李濟科 于 2012-2-15 16:53 編輯

                這個帖子的題目,是鐵匠老板先生使用的。為了引起更多朋友關注和參與討論,我將它在此發表,并按我的理解提出了問題。JB/T 4730.3-2005附錄IJK上給出了三種缺陷測高方法,分別是:端點衍射波法、端點最大回波法和6dB法。我的問題是:      
              1)不論什么缺陷都可以用這三種方法測高么?   
              2)測量結果會一致么?

          作者: 丁偉臣    時間: 2012-2-15 16:32
          1)不論什么缺陷都可以用這三種方法測高么?  
          每種方法有具體的適用條件,比如端點衍射波法主要用于面狀不連續的精確測長,但與測量人的技巧關系很大。
          2)測量結果會一致么?
          結果相當來說端點衍射法和波型轉變法的精度最高,其它的方法次之。

          問題:我們標準羅列了這些方法,為何不寫明相應的使用條件?如果同樣執行該標準,不同的人、不同的公司、使用不同的方法測得的長度不同,可能結論會相差很大,如何處理?
          作者: 濟公    時間: 2012-2-17 16:27
          超聲波測缺陷高度,難道較大,復測的統一性也較差,用TOFD會比較準確,且可記錄




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