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標題: 數字機水平線性、盲區、分辨力的性能測試如何操作 [打印本頁]
          

          
作者: barbaria    時間: 2012-1-17 17:08
          
標題: 數字機水平線性、盲區、分辨力的性能測試如何操作
          本帖最后由 依蘭絲柏 于 2012-1-16 08:20 編輯 
          

          

          
請教下老師：
          
數字機水平線性、盲區、分辨力的性能測試如何操作 
          

          
作者: szlinxd    時間: 2012-2-8 20:45
          
貌似說明書上沒有~~{:soso_e100:}
          
作者: 丁偉臣    時間: 2012-2-9 15:36
          
數字機水平線性：將已知厚度的第1次和第6次回波設定在儀器的0.5刻度和滿刻度（使用波前定位--準確讀數），然后讀出第2、3、4、5的誤差并與第1次和第6次回波代表的范圍相比。
          
盲區：在IIW-1試塊探測中間圓形反射體大致估計盲區的大小--主要靈敏度設定在掃查靈敏度上
          
分辨力：不同的標準測試方法和要求不同，大致分為IIW-1試塊上和AWS 專用試塊
          
作者: 爽歪歪    時間: 2012-2-12 11:05
          
{:soso_e179:}
          
作者: ZGP    時間: 2012-2-13 09:09
          
學習了。
          
作者: 丁偉臣    時間: 2012-2-13 11:04
          
有空來看看！
          
作者: XINZ117    時間: 2012-2-18 00:07
          
學習了啊。這個還真的不會操作啊
          
作者: zcj    時間: 2012-3-21 11:30
          
學習了。謝謝！
          
作者: 爽歪歪    時間: 2012-3-23 19:15
          
丁老師是否可以傳一張測試表格上來？
          
作者: 一彎馨月    時間: 2013-3-16 09:57
          
{:soso_e160:}
          
作者: 王聯國    時間: 2013-4-23 11:45
          
{:soso_e160:}
          
作者: lywen0417    時間: 2015-9-15 17:09
          
有空學習一下“GB/T28880-2012無損檢測  不用電子測量儀器對脈沖反射式超聲檢測系統性能特性的評定”標準，可能就清楚了。
          
作者: JIAQIDONG    時間: 2017-1-6 21:43
          
說一下我的經驗，數字機水平線性測試，  PXUT-350 ,2.5P14Z  CSK-IA試塊，厚25mm的兩面，調節聲程，出現B1到B5 ，B1橫坐標為0點，B5的橫坐標為47個熒光點，理論上，B2橫坐標為11.75點，B3橫坐標為23.5點，B4橫坐標為35.25點，實測：B2橫坐標為11.5點，B3橫坐標為23點，B4橫坐標為35點，計算PXUT-350數字機水平線性&=0.8%，符合標準。
          
作者: lk10132211    時間: 2017-1-12 12:18
          
 盲區測定
          
（1）利用csk——1a試塊上Φ50孔距兩側邊緣5㎜和10㎜的邊距測盲區大小。如圖所示：
          
分別用探頭探測兩邊距，看孔波與始波間是否有波谷且谷底在基線上，若谷底不在時基線上，則不能分辨孔波。一般先探10mm邊距，若能分辨則盲區小于10mm，可再探5mm邊距，若不能分辨則至少5mm是盲區。
          
3.2 組合分辨力測定
          
（1）直探頭分辨力測定
          
將探頭置于試塊左右移動(a)，使85和91兩反射面波高等高達到h1（20%——30%）波幅(b)。然后再調節儀器使85和91兩波谷底h2提高到h1(c)，此時所提高的分貝數為波谷與波峰的分貝差，也就是直探頭的分辨力大小。 
          
            (a)                          (b )                  (c)
          
 
          
(2)斜探頭分辨力的測定
          
斜探頭分辨力的測定利用csk——1a試塊Φ50和Φ44兩個臺階孔來測試，分辨距離為3㎜，測試方法與直探頭相同，如圖所示：
          

          

          
將斜探頭置于試塊左右移動，找出最高回波，再里外橫向移動探頭，使Φ50、Φ44兩孔波峰等高使其達到h1(h1=20%―30％),然后再調節儀器使h2達到h1,此時，提高的分貝數即為斜探頭的縱向分辨力大小。
          
注意：1：根據k值選擇探測面，如測試k1探頭則應在70深度探測。
          
2：直探頭應≧18db.       斜探頭應≧14db。
          
二、水平線性
          
本測試是為了校核超聲波探傷儀的時基線性。測試時，采用CSK-IA標準試塊的20mm厚平行面。測試前將探傷儀的“抑制”調節為0%，其它調整取適當值。
          
具體測試方法及步驟如下：
          
1)   將探頭壓在試塊上，中間加適當的耦合劑，保持穩定的聲耦合。將探測范圍調至100mm,調節脈沖移位使屏幕上顯示出6次底面回波；
          
2)   在“基本”菜單中，調節脈沖移位、探頭零點、材料聲速，使第一次底面回波（Sa）顯示0mm，第六次底面回波（Sa）顯示100mm；
          
3)   依次將B2、B3、 B4、B5升至80%，用閘門套住逐一讀出其聲稱Sa與20、40、60、80的偏差α2、α3、α4，α5然后取其中最大的偏差值αmax，將測試的結果記錄到表C-2中。水平線性誤差ΔL（以百分值計）由下式給出：
          
ΔL=│αmax.│%
          
            式中：αmax表示最大偏差值。




          

          

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