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標題: 利用X射線標識譜進行元素成分分析 [打印本頁]
          

          
作者: 強天鵬    時間: 2011-2-3 09:17
          
標題: 利用X射線標識譜進行元素成分分析
                 X射線管內的靶材可以發射和靶材料有關的一系列特征譜——X射線標識譜。
          
    不同的元素具有各自獨特的核外電子排布，因此就會有各自獨特的X射線標識譜。
          
    如果把需要研究的材料當做靶材，用高能電子去轟擊它就可以得到各種標識譜。通過標示這些譜線就可以分析出材料中含有的元素成分。而通過譜權重（即特征譜線的面積）的分析就可以大致得出材料中元素的原子配比。
          
    類似的原理，我們還可以對離子晶體中離子的化學價態進行分析。通過一系列的分析，我們就可以得出新材料的元素組成和原子排布方式，從微觀上探測清楚材料的性質。
          

          

          

          
作者: xcb526    時間: 2011-3-1 20:30
          

          
作者: liurong    時間: 2013-1-28 09:14
          
{:soso_e179:}
          
作者: 劍俠    時間: 2013-1-29 08:12
          
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